Физика и техника полупроводников

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Моделирование электрических свойств поликристаллических керамических полупроводников с субмикрометровыми размерами зерен

Рожанский И.В.¹, Закгейм Д.А.¹

¹Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия Ioffe Institute, St. Petersburg, Russia

Поступила в редакцию: 5 октября 2004 г.

Выставление онлайн: 19 апреля 2005 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Предложена численная модель, позволяющая рассчитывать электрические свойства поликристаллических керамических полупроводников в случае, когда средний размер зерна сравним с шириной обедненной области вблизи межзеренной границы и происходит перекрытие двойных барьеров Шоттки соседних границ. Двумерный расчет проведен в диффузионно-дрейфовом приближении с использованием метода сетки Вороного. Выполнен анализ влияния размеров кристаллических зерен на вольт-амперную характеристику и удельную электрическую емкость материала на примере SrTiO₃ p-типа проводимости.

N. Setter, R. Waser. Acta Mater., 48, 151 (2000)
N. Setter. J. Europ. Ceram. Soc., 21, 1279 (2001)
R. Waser, R. Hagenbeck. Acta Mater., 48, 797 (2000)
К.М. Дощанов. ФТП, 32, 6 (1998)
G.E. Pike. Phys. Rev. B, 30, 795 (1984)
G. Blatter, F. Greuter. Phys. Rev. B, 34, 8555 (1986)
L.M. Levinson, H.R. Philipp. Am. Ceram Soc. Bull., 65, 639 (1986)
Faruque M. Hossain, J. Nishii, S. Takagi. J. Appl. Phys., 94, 7768 (2003)
D.E. Kotecki, D. Baniecki, H. Shen, R.B. Laibowitz, K.L. Saenger, J.J. Lian, T.M. Shaw, S.D. Athavale, C. Cabral, jr., P.R. Duncombe, M. Gutsche, G. Kunkel, Y.-J. Park, Y.-Y. Wang, R. Wise. IBM J. Res. Develop., 43 (3), 367 (1999)
R. Hagenbeck, L. Schneider-Stormann, M. Vollmann, R. Waser. Mater. Sci. Eng. B, 39, 179 (1996)
T. Holbing, R. Waser. J. Appl. Phys., 91, 3037 (2002)
J. Fleig, S. Rodewald, J. Maier. J. Appl. Phys., 87, 2372 (2000)
M. Bartkowiak, G.D. Mahan. Phys. Rev. B, 51, 10 825 (1995)
T. Nagaya, Y. Ishibashi. Jap. J. Appl. Phys., 36, 6136 (1997)
M. Volmann, R. Waser. J. Electroceramics, 1, 51 (1997)
T. Shimizu, N. Gotoh, N. Shinozaki, H. Okushi. Appl. Surf. Sci., 117/118, 400 (1997)
M. Kuwabara, H. Matsuda, Y. Ohba. J. Mater. Sci., 34, 2635 (1999)
Н.Н. Медведев. Метод Вороного--Делоне в исследовании структуры некристаллических систем (Новосибирск, 2000)
В.Л. Бонч-Бруевич, С.Г. Калашников. Физика полупроводников (М., Наука, 1990)
T.A. Davis. UMFPACK Version 4.1 User Guide, http://www.cise.ufl.edu/research/sparse/umfpack/(2003)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель