Методом асимптотической брэгговской дифракции рентгеновских лучей исследована граница раздела между кристаллом Hg_1-xCd_xTe и анодными оксидными и сульфидными пленками на его поверхности. Результаты подтверждают, что приповерхностные слои кристалла обеднены ртутью. Определены параметры, характеризующие переходной слой между кристаллом и пленками на полярных гранях (111) кристалла. Обсуждается влияние анизотропии внутренних электрических полей на процессы массопереноса в приповерхностной области.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.