Вышедшие номера
Поглощательная способность полупроводников, используемых в производстве солнечных панелей
Косяченко Л.А.1, Грушко Е.В.1, Микитюк Т.И.1
1Черновицкий национальный университет, Черновцы, Украина
Поступила в редакцию: 1 сентября 2011 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2012 г.

Исследованы зависимости поглощательной способности пролупроводников от толщины поглощающего слоя: кристаллического кремния (c-Si), аморфного кремния (a-Si), теллурида кадмия (CdTe), диселенида индия (CuInSe2, CIS) и диселенида галлия (CuGaSe2, CGS). Расчеты выполнены с учетом спектрального распределения стандартного солнечного излучения AM1.5 и коэффициентов поглощения материалов. Показано, что в области длин волн lambda=lambdag=hc/Eg практически полное поглощение фотонов в солнечном излучении AM1.5 достигается в c-Si при толщине d=7-8 мм, в a-Si при d=30-60 мкм, в CdTe при d=20-30 мкм, в CIS и CGS при d=3-4 мкм. Полученные результаты отличаются от литературных данных для этих материалов (особенно для c-Si), когда толщина полупроводника, необходимая для полного поглощения солнечного излучения, идентифицируется с эффективной глубиной проникновения света на некоторой длине волны в области фундаментального поглощения полупроводника.