"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Статистический метод релаксационной спектроскопии глубоких уровней в полупроводниках
Татохин Е.А.1, Каданцев А.В.1, Бормонтов А.Е.2, Задорожний В.Г.2
1Воронежская государственная технологическая академия, Воронеж, Россия
2Воронежский государственный университет, Воронеж, Россия
Поступила в редакцию: 9 декабря 2009 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2010 г.

Метод релаксационной спектроскопии является одним из основных методов, широко используемых для определения параметров дефектов, приводящих к возникновению глубоких уровней в запрещенной зоне полупроводникового материала. С целью повышения точности определения концентрации и параметров глубоких уровней, определяющих характер изотермической релаксации емкости, предложен статистический метод обработки результатов измерений изотермической релаксации емкости, основанный на алгоритме статистического поиска решения.
  1. А. Милнс. Примеси с глубокими уровнями в полупроводниках (М., Мир, 1981). [Пер. с англ.: A.G. Milnes. Deep Impurities in Semiconductors (N.Y., Wiley, 1973)]
  2. С. Зи. Физика полупроводниковых приборов (М., Мир, 1984). (Пер. с англ.: S.M. Sze. Physics of Semiconductor Devices (N.Y.--Chichester--Brisbane--Toronto--Singapore, A Wiley--Interscience Publication John Wiley \& Sons, 1981)]
  3. Л.С. Берман, А.А. Лебедев. Емкостная спектроскопия глубоких центров в полупроводниках (Л., Наука, 1981)
  4. А.А. Денисов, В.Н. Лактюшин, Ю.Г. Садофьев. Обзоры по электрон. техн., 7, 54 (1985)
  5. D.V. Lang. J. Appl. Phys., 45 (7), 3023 (1974)
  6. Л.С. Берман. ФТП, 32 (6), 688 (1974)
  7. Ф.А. Живописцев, В.А. Иванов. Регистрационный анализ в экспериментальной физике (М., Изд-во МГУ, 1995)
  8. А.В. Каданцев, Г.И. Котов, М.Н. Левин, А.В. Татаринцев, Ю.К. Шлык. ПТЭ, 6, 138 (2004)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.