Поведение структурных дефектов и проводимости в легированных бором пленках nc-SiC : H, выращенных методом photo-CVD
Шевалеевский О.И.1, Myong S.Y.2, Lim K.S.2, Miyajima S.3, Konagai M.3
1Институт биохимической физики Российской академии наук, Москва, Россия
2Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon 305-701, South Korea
3Tokyo Institute of Technology, 2-12-1 O-okayama, Meguro-ku, Tokyo 15, Japan
Поступила в редакцию: 21 июля 2004 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2005 г.
Исследовано поведение парамагнитных DB-дефектов и темновой проводимости (sigmad) в легированных бором пленках нанокристаллического гидрированного кремния с добавками углерода nc-SiC : H, выращенных методом photo-CVD. Показано, что увеличение уровня легирования приводит к фазовому переходу от кристаллической структуры к аморфной. Проводимость растет с легированием до sigmad=5.5·10-2 Ом-1·см-1, однако после фазового перехода понижается. Концентрация DB-дефектов с легированием монотонно убывает от 1019 см-3 в кристаллической до 9·1017 см-3 в аморфной структуре.
- S.Y. Myong, S.S. Kim, K.S. Lim. J. Appl. Phys., 95, 1525 (2004)
- Y. Hamakawa, H. Okamoto, Y. Tawada. Int. J. Solar Energy, 1, 125 (1982)
- О.И. Шевалеевский, А.А. Цветков, Л.Л. Ларина, S.Y. Myong, K.S. Lim. ФТП, 38, 547 (2004)
- O. Chevaleevski, S.Y. Myong, K.S. Lim. Sol. St. Commun., 128, 355 (2003)
- А.Г. Казанский, Х. Мелл, Е.И. Теруков, П.А. Форш. ФТП, 36, 41 (2002)
- H.K. Lee, S.Y. Myong, K.S. Lim, E. Yoon. J. Non-Cryst. Sol., 316, 297 (2003)
- F. Finger, J. Muller, C. Malten, R. Carius, H. Wagner. J. Non-Cryst. Sol., 266--269, 511 (2000)
- М.М. Мездрогина, А.В. Пацекин. ФТП, 34, 354 (2000)
- S.Y. Myong, T.H. Kim, K.S. Lim, K.H. Kim, B.T. Ahn, S. Miyajima, M. Konagai. Sol. Energy Mater. Solar. Cells, 81, 485 (2004)
- C. Boehme, K. Lips. J. Non-Cryst. Sol., 338--340, 434 (2004)
- M. Stutzmann, M.S. Brandt, M.W. Bayerl. J. Non-Cryst. Sol., 266--269, 1 (2000)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.