Востоков Н.В.1, Шашкин В.И.1
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
Поступила в редакцию: 7 июля 2003 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2004 г.
Проведены расчеты потенциала в полупроводнике вокруг сферических и цилиндрических металлических наноконтактов. Проанализированы электрические свойства наноконтактов с малыми характерными размерами a<< S (S - ширина обедненной области в плоской геометрии). Показано, что наноконтакты имеют слабую зависимость емкости от напряжения, большее, чем в плоском случае, снижение высоты барьера Шоттки за счет сил изображений, а также малую инерционность отклика до частот терагерцового диапазона.
- Takhee Lee, Jia Liu, Nien-Po Chen, R.P. Andres, D.B. Janes, R. Reifenberger. J. Nanoparticle Res., 2, 345 (2000)
- G.D.J. Smit, S. Rogge, T.M. Klapwijk. Appl. Phys. Lett., 81, 3852 (2002)
- G.D.J. Smit, M.G. Flokstra, S. Rogge, T.M. Klapwijk. Microelectron. Eng., 64, 429 (2002)
- Hideki Hasegawa, Taketomo Sato, Chinami Kaneshiro. J. Vac. Sci. Technol. B, 17 (4), 1856 (1999)
- I. Tanaka, I. Kamiya, H. Sakaki. J. Cryst. Growth, 201/202, 1194 (1999)
- Kian-Giap Gan, Jin-Wie Shi, Yen-Hung Chen, Chi-Kuang Sun, Yi-Jen Chiu, J.E. Bowers. Appl. Phys. Lett., 80, 4054 (2002)
- I. Aberg, K. Deppert, M.H. Magnusson, I. Pietzonka, W. Seifert, L.-E. Wernersson, L. Samuelson. Appl. Phys. Lett., 80, 2976 (2002)
- Н.В. Востоков, В.М. Данильцев, М.Н. Дроздов, Ю.Н. Дрозодов, А.В. Мурель, В.И. Шашкин. Матер. совещ. Нанофотоника" (Н. Новгород, Россия, март 2003) с. 363
- A.C. Warren, J.M. Woodall, J.L. Freeout, D. Grischkowsky, D.T. Mclnturff, M.R. Melloch, N. Otsuka. Appl. Phys. Lett., 57, 1331 (1990)
- С. Зи. Физика полупроводниковых приборов (М., Мир, 1984)
- E.H. Rhoderick, R.H. Williams. Metal--Semiconductor Contacts (Clarendon Press, Oxford, 1988)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.