"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Методика исследования световой деградации тандемных фотопреобразователей alpha-Si : H/mu c-Si : H при повышенной освещенности
Честа О.И.1, Аблаев Г.М.2,3, Блатов А.А.4, Бобыль А.В.1, Емельянов В.М.1, Орехов Д.Л.2, Теруков Е.И.1,2, Тимошина Н.Х.1, Шварц М.З.1,2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2ООО "НТЦ тонкопленочных технологий в энергетике при Физико-техническом институте им. А.Ф. Иоффе", Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский aкадемический университет --- научно-образовательный центр нанотехнологий Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
4Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", Москва, Россия
Поступила в редакцию: 18 января 2013 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2013 г.

Представлены описание созданной экспериментальной установки и методика ее использования для проведения ускоренных испытаний тонкопленочных фотопреобразователей alpha-Si : H/mu c-Si : H размером до 100x100 мм на световую деградацию при повышенной освещенности (до 10 кВт/м2). Проведено сравнение результатов оценки уровня фотоиндуцированной деградации фотопреобразователей по стандартной и разработанной методике и показано, что методика исследования фотоиндуцированной деградации при повышенной освещенности позволяет в 100 раз сократить время проведения испытаний, обеспечивая полностью адекватную оценку стабильности фотопреобразователей на основе аморфного и микрокристаллического кремния.
  • С.R. Wronsky. Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 469, 7 (1997)
  • D.L. Staebler, C.R. Wronski. Appl. Phys. Lett., 31, 292 (1977)
  • A. Kolodziej, C.R. Wronski, P. Krewniak, S. Nowak. Opto-Electronics Rev., 12, 21 (2004)
  • X. Deng, M. Izu, K.L. Narasimhan, S.R. Ovshinsky. Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 336, 699 (1994)
  • A. Luque, S. Hegedus. Handbook of photovoltaic science and engineering (John Wiley and Sons, 2003) p. 551
  • W. Luft, B. van Roedem, B. Stafford, L. Mrig. Proc. 23rd IEEE PVSC (Louisville, KY, 1993) p. 860
  • T. Tonon, X. Li, A.E. Delahoy. AIP Conf. Proc., 234, 259 (1991)
  • IEC 61646. Thin-film Terrestrial Photovoltaic (PV) Modules-Design, Qualification and Type Approval. 2nd edn (2008)
  • M. Stutzmann, W.B. Jackson, C.C. Tsai. Phys. Rev. B, 32, 23 (1985)
  • IEC 60904-9 Photovoltaic devices. Pt 9: Solar simulator performance requirements, 2nd edn (2007)
  • Werner Luft, Bolko von Roedern. Proc. of 1st WCPEC (Waikoloa, Hawai, 1994) p. 457
  • IEC 60904-10 Photovoltaic devices. Pt 10: Methods of linearity measurement. 2nd edn (2009)
  • В.М. Емельянов и др. ФТП, 45, 667 (2013)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.