"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Cтруктура ближнего порядка и антиструктурные дефекты олова в пленках аморфного и кристаллического Ge2Sb2Te5
Переводная версия: 10.1134/S1063782621010127
Марченко А.В. 1, Теруков Е.И.2,3, Насрединов Ф.С. 4, Петрушин Ю.А.1, Серегин П.П. 1
1Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
4Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
Email: al7140@rambler.ru, nasfas@mail.ru, ppseregin@mail.ru
Поступила в редакцию: 21 сентября 2020 г.
В окончательной редакции: 23 сентября 2020 г.
Принята к печати: 23 сентября 2020 г.
Выставление онлайн: 12 октября 2020 г.

Методом абсорбционной мессбауэровской спектроскопии на примесных центрах 119Sn показано, что атомы германия в структуре аморфных и поликристаллических пленок Ge2Sb2Te5 имеют различную симметрию локального окружения (тетраэдрическую в аморфной фазе и октаэдрическую в кристаллической фазе). Методом эмиссионной мессбауэровской спектроскопии на примесных центрах 119mSn, образующихся после радиоактивного распада материнских атомов 119Sb и 119mTe, идентифицированы антиструктурные дефекты олова в узлах сурьмы и теллура кристаллических пленок Ge2Sb2Te5. Ключевые слова: антиструктурные дефекты, мессбауэровская спектроскопия, Ge2Sb2Te5.
  1. A.V. Kolobov, P. Fons, A.I. Frenkel, A.L. Ankudinov, J. Tominaga, T. Uruga. Nature Materials, 3, 703 (2004)
  2. C. Hu, Z. Yang, C. Bi, H. Peng, L. Ma, C. Zhang, Z. Gu, J. Zhu. Acta Materialia, 188, 121 (2020)
  3. K. Bobokhuzhaev, A. Marchenko, P. Seregin. Structural and antistructural defects in chalcogenide semiconductors. Mossbauer spectroscopy (Academic Pubblishing, 2020)
  4. Л.Н. Серегина, Ф.С. Насрединов, Б.Т. Мелех, З.В. Маслова, Э.Ю. Тураев, П.П. Серегин. Физика и химия стекла, 3, 328 (1977)
  5. M. Micoulaut, K. Gunasekera, S. Ravindren, P. Boolchand. Phys. Rev. B, 90, 094207 (2014)
  6. А.В. Марченко, П.П. Серегин, Е.И. Теруков, К.Б. Шахович. ФТП, 53, 718 (2019)
  7. T. Kato, K. Tanaka. Jpn. J. Appl. Phys., 44, 7340 (2005)
  8. R.M. Shelby, S. Raoux. J. Appl. Phys., 105, 104902 (2009)
  9. T. Siegrist, P. Jost, H. Volker. Nature Materials, 10, 202 (2011)
  10. V. Sousa. Microelectronic Engin., 88, 807 (2011)
  11. F. Ambe, S. Ambe. J. Chem. Phys., 73, 2029 (1980)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.