"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Выявление корреляций поверхностного интерфейса пленок a-Si:H методом двумерного флуктуационного анализа
Алпатов А.В.1, Вихров С.П.1, Гришанкина Н.В.1
1Рязанский государственный радиотехнический университет, Рязань, Россия
Поступила в редакцию: 5 апреля 2012 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2013 г.

Представлена реализация модифицированного метода двумерного флуктуационного анализа для выявления корреляций интерфейсов поверхности. Были исследованы модельные поверхности с известным правилом построения, с различными структурными свойствами: упорядоченные, структуры со слабой организацией, хаотические. Полученные значения скейлингового показателя сопоставлялись с известной шкалой значений. Были выявлены особенности поведения скейлинга на различных масштабах. Показано, что метод может эффективно использоваться при исследовании эволюции поверхности, например, при росте пленок неупорядоченных полупроводников, при оценке степени упорядоченности, при исследовании процессов самоорганизации. Были исследованы поверхности пленок аморфного гидрогенизированного кремния, сканы которых были получены методом атомно-силовой микроскопии. Диагностика методом двумерного флуктуационного анализа показала наличие немонофрактальности поверхностей и нескольких составляющих интерфейса поверхности --- шумовой и синусоидальной.
  1. А.А. Айвазов, Б.Г. Будагян, С.П. Вихров, А.И. Попов. Неупорядоченные полупроводники (М., Высш. шк., 1995) с. 352
  2. Н.В. Бодягин, С.П. Вихров. Приложение к журнаул "Вестник РГРТУ", 4, 9 (2009)
  3. ISO 4287-1997
  4. ГОСТ 25142-82
  5. С.М. Мурсалов, Н.В. Бодягин, С.П. Вихров. Письма ЖТФ, 26 (15), 53 (2000)
  6. Н.В. Бодягин, С.П. Вихров. Письма ЖТФ, 23 (19), 77 (1997)
  7. Н.В. Бодягин, С.П. Вихров. Письма ЖТФ, 23 (19), 81 (1997)
  8. S.V. Mayur, T. Bakos, E.S. Aydil, D. Maroudas. Phys. Rev. Lett., 95, 216 102 (2005)
  9. A.-L. Barabasi, H.E. Stanley. Fractal concepts in surface qrowth (Cambridge University Press, 1995)
  10. Г.В. Вoстовский, А.Г. Колмаков, И.Ж. Бунин. Введение в мультифрактальную параметризацию структур материалов (М., НИЦ "Регулярная и хаотическая динамика") с. 116
  11. П.В. Короленко, М.С. Маганова, А.В. Меснянкин. Новационные методы анализа стохастических процессов и структур в оптике. Фрактальные и мультифрактальные методы, вейвлет-преобразования (М., Моск. гос. ун-т им. М.В. Ломоносова, Науч.-исслед. ин-т ядерной физики им. Д.В. Скобельцына, 2004): Учеб. пособие, с. 82
  12. G.-F. Gu, W.-X. Zhou. Phys. Rev. E, 74, 061 104 (2006)
  13. K. Hu, P.C. Ivanov, Z. Chen, P. Carpena, H.E. Stanley. Phys. Rev. E, 64, 011 114 (2001)
  14. C.-K. Peng, S. Havlin, H.E. Stanley, A.L. Goldberger. CHAOS, 5, 82 (1995)
  15. http:/www.physionet.org/tutorials/fmnc/node6.html
  16. Программа для расчета флуктуационных и фрактальных характеристик нестационарных сигналов (А.В. Алпатов и др.). Свид-во о гос. регистрации для ЭВМ "N 2011612858, 8 апреля 2011 г."
  17. http://qwyddion.net

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.