Вышедшие номера
Структура и оптические свойства тонких пленок Al2O3, полученных методом реактивного ионно-плазменного распыления на подложках GaAs(100)
Середин П.В.1, Голощапов Д.Л.1, Лукин А.Н.1, Леньшин А.С.1, Бондарев А.Д.2, Арсентьев И.Н.2, Вавилова Л.С.2, Тарасов И.С.2
1Воронежский государственный университет, Воронеж, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 20 марта 2014 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2014 г.

Методами структурного анализа и оптической спектроскопии исследованы свойства ультратонких пленок Al2O3, полученных на установке ионно-плазменного распыления. Удалось показать, что используемый технологический метод позволяет получать аморфные, гладкие, ультратонкие пленки, беспористые и практически однородные, с зарождающимися в них кристаллами alpha-фазы оксида алюминия Al2O3. При этом пленки отлично пропускают оптическое излучение в инфракрасном, видимом, ультрафиолетовом диапазонах и потенциально значимы для создания на их основе просветляющих покрытий зеркал мощных полупроводниковых лазеров на основе AIIIBV.