Вышедшие номера
Механизм высокой радиационной стойкости электрических параметров тонких пленок SmS
Васильев Л.Н.1, Каминский В.В.1, Соловьев С.М.1, Шаренкова Н.В.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 25 февраля 2000 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2000 г.

Исследовано влияние gamma-облучения на электрические свойства тонких поликристаллических пленок моносульфида самария с различными параметрами кристаллической решетки. Стабильность удельного сопротивления пленок при экспозиционных дозах облучения в интервале D= 108-109 Р объясняется существованием канала релаксации радиационных возбуждений, связанного с наличием разновалентных ионов самария (Sm2+, Sm3+).