Физика и техника полупроводников
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Механические свойства чистых и легированных кристаллов InP, выявляемые при локальном нагружении
1Институт прикладной физики АН Молдовы, Кишинев, Молдова 
Поступила в редакцию: 3 ноября 1995 г.
Выставление онлайн: 20 января 1997 г.
Исследованы механические свойства чистых и легированных (Fe, Zn, Sn) монокристаллов InP в интервале температур 293-600 K. Показано, что примесное упрочнение (увеличение микротвердости) гораздо ярче выражено при повышенных температурах, чем при комнатной. Это обусловлено торможением движущихся дислокаций примесями, которое больше проявляется в области высоких температур. Обнаружена заметная анизотропия твердости по царапанию на грани (001) исследуемых кристаллов при 293 K. При повышении температуры в интервале 293-600 K она резко уменьшается. Показана неэквивалентность направлений [110] и [ 110] на грани (001) исследуемых кристаллов. Наблюдаемые явления объясняются разным вкладом двух механизмов пластической деформации: скольжения и двойникования в процессе образования царапин вдоль направления < 100> и < 110>, а также вдоль направлений [110] и [ 110].
- G.T. Brown, B. Cockayne, W.R. Nacevan. J. Mater. Sci., 15, 1469 (1980)
- С.Г. Симашко и др. В сб.: Получение и исследование новых материалов полупроводниковой техники (Кишинев, Штиинца, 1980)
- Б.С. Боярская, Д.З. Грабко, М.С. Кац. Физика процессов микровдавливания (Кишинев, 1986) с. 294
- I. Yonenaga, K. Sumino. J. Appl. Phys., 74, 917 (1993)
- С.Г. Симашко, Н.В. Н.В. Бежан, В.Д. Мартыненко. ФТТ, 19, 1619 (1977)
- М.И. Вальковская, Б.М. Пушкаш, Э.Е. Марончук. Пластичность и хрупкость полупроводниковых материалов при испытаниях на микротвердость (Кишинев, 1972) с. 235
- Д.З. Грабко, В.С. Панфилов, З.Е. Марончук. В сб.: Фосфид индия в полупроводниковой электронике (Кишинев, Штиинца, 1988)
- Ю.С. Боярская. Деформирование кристаллов при испытаниях на микротвердость (Кишинев, 1972) с. 235
- C.A. Brookes, F. Green. Proc. Roy. Soc. (London), A368, 37 (1979)
- C.A. Brookes. Phil. Mag. A, 43, 529 (1981)
- D.B. Holt. J. Mater. Sci., 23, 1131 (1988)
- Э.Е. Марончук. В сб.: Деформирование кристаллов при действии сосредоточенной нагрузки (Кишинев, Штиинца, 1978) с. 110
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
