"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Нестационарная емкостная спектроскопия глубоких уровней в полупроводниковых твердых растворах: метод определения функции плотности состояний
Зубков В.И.1, Ким Ха Ен1, Копылов А.А.1, Соломонов А.В.1
1Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
Выставление онлайн: 19 ноября 1991 г.

Предлагается метод определения функции плотности состояний (ФПС) глубоких уровней на основе анализа уширенных спектров НСГУ, для которых некорректна традиционная обработка по методу Лэнга. Метод базируется на обращении свертки и не требует априорных предположений о характере ФПС. С помощью разработанного метода определялись ФПС Y-уровня в твердых растворах n-GaAs1-xP. Результаты расчетов свидетельствуют о том, что ФПС глубоких уровней в твердых растворах близка по форме к распределению Гаусса.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.