Методом нестационарной емкостной спектроскопии глубоких уровней (НЕСГУ) проведено исследование влияния нейтронного и gamma-облучения и механической обработки поверхности на поведение центров золота в кремнии n-типа. Установлено, что нейтронное облучение дозой более 10¹⁴ см^-2 и механическая обработка поверхности приводят к значительному уменьшению концентрации электрически активных центров золота в n-кремнии, а gamma-облучение дозой до 10⁸ рад не изменяет их концентрации. На основании полученных результатов сделан вывод о том, что переход электрически активных центров золота в n-Si в электрически неактивное состояние обусловлен изменением их динамического поведения, связанного с воздействием полей упругих напряжений, возникающих в образцах после нейтронного облучения дозой >10¹⁴ см^-2 и механической обработки поверхности.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.