Вышедшие номера
Особенности фотоэффекта в резких изотипных N+--n 0--n+-гетероструктурах
Жебулев И.А.1, Корольков В.И.1, Табаров Т.С.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 26 июля 1994 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 1995 г.

Представлены результаты исследования фотоэлектрических свойств гетероструктур на основе InP/InGaAs и GaAs/AlxGa1-xAs с тонкой узкозонной областью. Подробно изучены зависимости коэффициента усиления образцов (сформированных в виде вертикальных фотосопротивлений) от полярности и величины приложенного смещения, а также от интенсивности падающего света и температуры. Предлагается объяснение замеченных особенностей в экспериментальных данных.