"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Исследование CdTe-детекторов для вычислительной рентгеновской томографии
Карпенко В.П.1, Матвеев О.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 24 июня 1993 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 1993 г.

Приведены результаты исследования характеристик МПМ структур на основе полуизолирующих кристаллов теллурида кадмия непосредственно при получении томограмм. Показано, что детекторы на основе теллурида кадмия пригодны для использования в системах вычислительной рентгеновской томографии.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.