"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Исследование параметров зонной структуры в приповерхностных слоях эпитаксиальных пленок узкощелевых твердых растворов ZnxHg1-xTe
Яфясов А.М.1, Савицкий В.Г.1, Ковтун Р.Н.1, Перепелкин А.Д.1, Божевольнов В.Б.1
1Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 22 июля 1991 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 1993 г.

Представлены результаты экспериментального исследования методом эффекта поля в электролите приповерхностных слоев узкощелевых полупроводниковых твердых растворов ZnxHg1-xTe. Для приповерхностных слоев эпитаксиальных пленок ZnxHg1-xTe (x=0.15, 0.16, 0.17 и 0.20-0.22) определены законы дисперсии и эффективные массы плотности в зонах, а также зависимости дифференциальной плотности электронных состояний в зоне проводимости.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.