"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Инновации в спектрометрии электронной эмиссии под воздействием рентгеновского излучения (XIEES)
Погребицкий К.Ю.1, Шарков М.Д.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 10 ноября 2009 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2010 г.

В последние годы наблюдается серьезная необходимость контроля над локальной атомной и электронной структурой вещества независимо от его агрегатного состояния. Эффективные методы, направленные на изучение ближнего порядка, основаны на явлениях, сопровождаемых интерференцией вторичных электронов, возбужденных первичным рентгеновским излучением. Область этих методов называется XAFS (тонкая структура рентгеновского спектра поглощения). Эти методы реально основаны на применении синхротронного излучения и реализованы в двух режимах: анализ "на прострел" и регистрация вторичных эффектов. Говорят лишь о двух подобных эффектах: рентгеновской флюоресценции и фотоэффекте. Доступ к синхротронным ускорителям для большинства пользователей проблематичен, что ведет к необходимости развития лабораторных устройств с возможностью непосредственного доступа. Поскольку мощность лабораторных устройств намного меньше, чем у синхротронов, необходимо применять детекторы вторичных электронов намного большей эффективности. Также привлекает внимание получение энергии с высоким пространственным разрешением. Канальные электронные умножители и многоканальные платы этого не обеспечивают. Поэтому был разработан улучшенный электронный детектор, анализирующий фотоэффект под ускоряющим полем. Работа проводилась в рамках проекта МНТЦ N 3157.
  1. L.A. Bakaleinikov, K.Ju. Pogrebitsky, E.A. Tropp, Yu.N. Yur'ev, S.A. Song. The Nucleus 34, 1 (1997)
  2. Л.А. Бакалейников, Е.Ю. Флегонтова, К.Ю. Погребицкий, Hwack-Joo Lee, Yang-Koo Cho, Hyun-Min Park, Yong-Won Song. ЖТФ, 71 (7), 14 (2001)
  3. G.D. Archard, T. Mulvey. J. Sci. Instrum., 35, 279 (1958)
  4. S.G. Konnikov, K.Ju. Pogrebitsky. Surf. Sci., 228, 532 (1990)
  5. X-Ray Absorption: Principles, Applications, Techniques of EXAFS, SEXAFS, and XANES, ed. by D.C. Koningsberger, R. Prins (Eindhoven, The Netherlands, Eindhoven University of Technology; N.Y.--Chichester--Brisbane--Toronto--Singapore, John Wiley \& Sons Inc., 1988) v. 92
  6. М.Д. Шарков, К.Ю. Погребицкий, С.Г. Конников. ЖТФ, 77 (8), 131 (2007)
  7. J.W. Cook, D.E. Sayers. J. Appl. Phys., 52, 5024 (1982)
  8. K.Ju. Pogrebitsky, M.E. Boiko, M.D. Sharkov, A.P. Morovov, M.G. Vasin. The Materials of the 8th Pharmaceutical Powder X-ray Diffraction Symposium Sponsored by the International Centre for Diffraction Data (Glasgow, Scotland, U.K., 2009)
  9. E.A. Stern, D.E. Sayers, F.W. Lytle. Phys. Rev. B, 11, 4836 (1975)
  10. G. Martens, P. Rabe, N. Schwentner, A. Werner. Phys. Rev. Lett., 39, 1481 (1977)
  11. З.Г. Пинскер. Динамическое рассеяние рентгеновских лучей в идеальных кристаллах (М., Наука, 1974)
  12. A.J. Bearden. Rev. Mod. Phys., 39, 78 (1967); A.J. Bearden, A.F. Burr. Rev. Mod. Phys., 39, 125 (1967)
  13. P. Bielli, L. Calabrese. Cell Mol. Life Sci., 59, 1413 (2002)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.