Вышедшие номера
Перенос носителей зарядов в пленках халькогенидного стеклообразного полупроводника состава Ge20As20S60
Казакова Л.П.1, Цэндин К.Д.1, Лебедев Э.А.1, Арсова Д.2, Обухова И.А.3
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Институт физики твердого тела Болгарской академии наук, София, Болгария
3Санкт-Петербургская государственная лесотехническая академия им. С.М. Кирова, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 9 июня 2009 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2009 г.

Проведено исследование переноса носителей заряда в пленках состава Ge20As20S60 методом измерения времени пролета в режиме слабой инжекции при комнатной температруре. Получено, что значения дрейфовых подвижностей электронов и дырок в пленках Ge20As20S60 близки: mue~muh~ 2·10-3 см2В-1с-1 при T=295 K и F=5· 104 В/см. Показано, что характер зависимости фототока от времени при дрейфе носителей заряда и зависимости дрейфовой подвижности от напряжения позволяют использовать представления об аномальном дисперсионном переносе. Экспериментальные данные объяснены в модели переноса, контролируемого захватом носителей на локализованные состояния, распределение которых по энергии вблизи краев зоны проводимости и валентной зоны описывается экспоненциальным законом с характеристической энергией ~0.05 эВ.