"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Определение состава бинарных халькогенидных стекол методом рентгенофлуоресцентного анализа
Бордовский Г.А.1, Марченко А.В.1, Серегин П.П.1, Смирнова Н.Н.2, Теруков Е.И.2
1Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 9 июня 2009 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2009 г.

Для определения количественного содержания германия, мышьяка, серы и селена в стеклообразных сплавах As1-xSx, Ge1-xSx, As1-xSex и Ge1-xSex методом рентгенофлуоресцентного анализа реализован метод стандарта. Использование указанной методики позволяет определить количественный состав стекол As1-xSx, Ge1-xSx, As1-xSex и Ge1-xSex с точностью ±0.001 по параметру x.
  1. А. Фельц. Аморфные и стеклообразные неорганические твердые тела (М., Мир, 1986)
  2. R.E. Loehman, A.J. Armstrong, D.W. Firestone, R.W. Gould. J. Non-Cryst. Sol., 8, 72 (1972)
  3. А.В. Легин, Л.А. Байдаков, М.И. Озерной, Ю.Г. Власов, Е.В. Школьников. Физика и химия стекла, 28 (2), 117 (2002)
  4. А.М. Блохин, И.Г. Швейцер. Рентгеноспектральный справочник (М., Мир, 1982)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.