Вышедшие номера
Home » Физика и техника полупроводников » Год 2008, выпуск 7 » Статья стр. 817
<<<>>>
Влияние кислорода на структуру и электронные свойства нанокластеров кремния Sin (n=5,6,10,18)
Гниденко А.А.1, Заводинский В.Г.1
1Институт материаловедения Дальневосточного отделения Российской академии наук, Хабаровск, Россия
Поступила в редакцию: 29 октября 2007 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2008 г.
PDF версия
Методами теории функционала электронной плотности и псевдопотенциалов исследовано влияние кислорода на геометрию и электронную структуру малых кремниевых кластеров Sin (n=5,6,10,18). Показано, что для таких систем в зависимости от расположения и количества атомов кислорода происходит изменение величины энергетической щели, которая, как правило, понижается. PACS: 71.15.Mb, 61.82.Fk, 61.46.Df, 73.22.-f
  1. S. Vajayalakshmi, M.A. George, H. Grebel. Appl. Phys. Lett., 70 (6), 708 (1997)
  2. D.K. Yu, R.Q. Zhang, S.T. Lee. Phys. Rev. B, 65 (24), 5417 (2002)
  3. X. Zhu, X.C. Zeng. J. Chem. Phys., 118 (8), 3558 (2003)
  4. G. Maroulis, D. Begue, C. Pouchan. J. Chem. Phys., 119 (2), 794 (2003)
  5. B. Marsen, M. Lonfat, P. Scheier, K. Sattler. Phys. Rev. B, 62 (11), 6892 (2000)
  6. Y. Luo, J. Zhao, G. Wang. Phys. Rev. B, 60 (15), 10 703 (1999)
  7. O. Ona, V.E. Bazterra, M.C. Caputo, J.C. Facelli, P. Fuentealba, M.B. Ferraro. Phys. Rev. A, 73 (5), 3203 (2006)
  8. D.J. Wales. Phys. Rev. A, 49 (3), 2195 (1994)
  9. O. Echt, K. Sattler, E. Recknagel. Phys. Rev. Lett., 47 (16), 1121 (1981)
  10. L.A. Bloomfield, R.R. Freeman, W.L. Brown. Phys. Rev. Lett., 54 (20), 2246 (1985)
  11. R. Rossetti, R. Hull, J.M. Gibson, L.E. Brus. J. Chem. Phys., 82 (1), 552 (1983)
  12. F. Huaxiang, Y. Ling, X. Xide. Phys. Rev. B, 48, 10 978 (1993)
  13. D. Tomanek, M.A. Schluter. Phys. Rev. B, 36 (2), 1208 (1987)
  14. L.T. Canham. Appl. Phys. Lett., 57 (10), 1046 (1990)
  15. P. Bettotti, M. Cazzanelli, L. Dal Negro, B. Danese, Z. Gaburro, C.J. Oton, G. Vijaya Prakash, L. Pavesi. J. Phys.: Condens. Matter, 14 ( 35), 8253 (2002)
  16. T. Shimizu-Iwayama, S. Nakao, K. Saitoh. Appl. Phys. Lett., 65 (14), 1814 (1994)
  17. B. Garrido Fernandez, M. Lopez, C. Garcia, A. Perez-Rodriguez, J.R. Morante, C. Bonafos, M. Carrada, A. Claverie. J. Appl. Phys., 91 (2), 798 (2002)
  18. T. Inokuma, Y. Wakayama, T. Muramoto, R. Aoki, Y. Kurata, S. Hasegawa. J. Appl. Phys., 83 (4), 2228 (1998)
  19. M.J. Chen, J.L. Yen, J.Y. Li, J.F. Chang, S.C. Tsai, C.S. Tsai. Appl. Phys. Lett., 84 (12), 2163 (2004)
  20. A.B. Filonov, A.N. Kholod, V.E. Borisenko, A.L. Pushkarchuk, V.M. Zelenkovskii, F. Bassani, F.A. d'Avetaya. Phys. Rev. B, 57 (3), 1394 (1998)
  21. I. Vasiliev, J.R. Chelikowsky, R.M. Martin. Phys. Rev. B, 65 (12), 1302 (2002)
  22. N. Wang, Y.H. Tang, Y.F. Zhang, C.S. Lee, S.T. Lee. Phys. Rev. B, 58 (24), R16024 (1998)
  23. S.F. Li, X.G. Gong. J. Chem. Phys., 122 (17), 4311 (2005)
  24. M.F. Jarrold, U. Ray, K.M. Creegan. J. Chem. Phys., 93 (1), 224 (1990)
  25. D.E. Bergeron, A.W. Castleman, jr. J. Chem. Phys., 117 (7), 3219 (2002)
  26. W.C. Lu, C.Z. Wang, V. Nguyen, M.W. Schmidt, M.S. Gordon, K.M. Ho. J. Phys. Chem. A, 107 (36), 6936 (2003)
  27. Q.J. Zang, Z.M. Su, W.C. Lu, C.Z. Wang, K.M. Ho. J. Phys. Chem. A, 110 ( 26), 8151 (2006)
  28. M. Luppia, S. Ossicini. J. Appl. Phys., 94 (3), 2130 (2003)
  29. R.Q. Zhang, M.W. Zhao, S.T. Lee. Phys. Rev. Lett., 93 (9), 5503 (2004)
  30. P. Hohenberg, W. Kohn. Phys. Rev., 136 (3B), 864 (1964)
  31. A.D. Becke. Phys. Rev. A, 38 (6), 3098 (1988)
  32. J.P. Perdew. Phys. Rev. B, 33 (12), 8822 (1986)
  33. J.P. Perdew, J.A. Chevary, S.H. Vosko, K.A. Jackson, M.R. Pederson, D.J. Singh, Carlos Fiolhais. Phys. Rev. B, 46 (11), 6671 (1992)
  34. M. Bockstedte, A. Kley, J. Neugebauer, M. Scheffler. Comp. Commun., 107 (1--3), 187 (1997)
  35. N. Troullier, J.L. Martins. Phys. Rev. B, 43 (3), 1993 (1991)
  36. T. van Buuren, L.N. Dinh, L.L. Chase, W.J. Siekhaus, L.J. Terminello. Phys. Rev. Lett., 80 (17), 3803 (1998)
  37. K. Sattler. In: Handbook of Thin Films Materials, ed. by H.S. Nalwa (N. Y., Academic Press, 2002) vol. 5. chap. 2, p. 61
  38. K. Jackson, M. Pederson, Cai-Zhuang Wang, Kai-Ming Ho. Phys. Rev. A, 59, 3685 (1999)
  39. A. Sieck, D. Porezag, Th. Frauenheim, M.R. Pederson, K. Jackson. Phys. Rev. A, 56 (6), 4890 (1997).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme