Источники спонтанного излучения на основе арсенида индия О б з о р
Зотова Н.В.1, Ильинская Н.Д.1, Карандашёв С.А.1, Матвеев Б.А.1, Ременный М.А.1, Стусь Н.М.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 7 сентября 2007 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2008 г.
Приводится обзор результатов, полученных в светодиодах на основе гетероструктур, содержащих в активной области InAs, и выращенных методами жидкофазной, молекулярно-лучевой и газофазной эпитаксии из металлорганических соединений. Проведен анализ яркости, картин ближнего поля, ватт-амперных и вольт-амперных характеристик светодиодов, имеющих конструкции с точечным контактом и флип-чип. PACS: 85.60.Jb, 78.60.Fi, 78.55.Cr
- L. Schnitzer, E. Yablonovitch, C. Caneau, T.J. Gmitter, A. Scherer. Appl. Phys. Lett., 63, 2174 (1993)
- L. Schnitzer, E. Yablonovitch, C. Caneau, T.J. Gmitter, Appl. Phys. Lett., 62, 131 (1993)
- S.D. Smith, J.G. Crowder, H.R. Hardaway. SPIE, 4651, 157 (2002)
- Н.П. Есина, Н.В. Зотова и Д.Н. Наследов. РЭ, 8, 1602 (1963); Н.П. Есина, Н.В. Зотова, Д.Н. Наследов. ФТП, 2 (3), 370 (1968)
- J. Melngailis, R.H. Redicker. J. Appl. Phys., 37, 899 (1966)
- T.S. Moss, G.J. Burell, B. Ellis. Semiconductor Optoelectronics (Butterworth, London, 1973)
- M.J. Kane, G. Braithwaite, M.T. Emeny, D. Lee, T. Martin, D.R. Wright. Appl. Phys. Lett., 76 (8), 943 (2000)
- D.G. Gevaux, A.M. Green, C.C. Philips, I. Vurgaftman, W.W. Bewley, C.L. Felix, J.R. Meyer, H. Lee, R. Martinelli. IEE Proc. Optoelectron., 150 (4), 351 (2003)
- J.R. Dixon, J.M. Ellis. Phys. Rev., 123, 1560 (1961)
- M.J. Kane, G. Braithwaite, M.T. Emeny, D. Lee, T. Martin, D.R. Wright. Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 450, 129 (1997)
- Landolt-Bornstein. Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology, vol. 17a, Physics of Group IV elements and III--V Compounds (Springer, Berlin, 1982)
- K.L. Vodopyanov, H. Graener, C. Philips, T.J. Tate. Phys. Rev. B, 46, 13 194 (1992)
- A. Monakhov, A. Krier, V.V. Sherstnev. Semicond. Phys. Technol., 19, 480 (2004)
- A. Krier. Phil. Trans. Royal. Soc. (London) A, 359, 599 (2001)
- A. Krier, V.V. Sherstnev. J. Phys. D: Appl. Phys., 33, 101 (2000)
- S.S. Kizhaev, N.V. Zotova, S.S. Molchanov, Yu.P. Yakovlev. IEE Pros. Optoelectron., 140 (1), 36 (2002)
- V.K. Malyutenko, O.Yu. Malyutenko, A.V. Zinovchuk. Appl. Phys. Lett., 89, 201 114 (2006)
- A. Krier, X.L. Huang. J. Phys. D: Appl. Phys., 39, 255 (2006)
- Г.А. Сукач, П.Ф. Олексенко, А.Б. Богословская, Ю.Ю. Билинец, В.Н. Кабаций. ЖТФ, 67 (9), 68 (1997)
- S.S. Kizhaev, N.V. Zotova, S.S. Molchanov, Yu.P. Yakovlev. IEE Proc. Optoelectron., 140 (1), 36 (2002)
- А.А. Попов, М.В. Степанов, В.В. Шерстнев, Ю.П. Яковлев. Письма ЖТФ, 23 (21), 24 (1997)
- A.A. Popov, V.V. Sherstnev, Y.P. Yakovlev, A.N. Baranov, C. Alibert. Electron. Lett., 33 (1), 86 (1997)
- A. Krier, V.V. Sherstnev. J. Phys. D, Appl. Phys., 38, 1484 (2003)
- Е.А. Гребенщикова, Н.В. Зотова, С.С. Кижаев, С.С. Молчанов, Ю.П. Яковлев. ЖТФ, 71 (9), 58 (2001)
- D.A. Write, V.V. Sherstnev, A. Krier, A.M. Monakhov, G. Hill. IEE Proc. Optoelectron., 150 (4), 314 (2003)
- A. Krier, H.H. Gao, V.V. Sherstnev. J. Appl. Phys., 85 (12), 8419 (1999)
- X.Y. Gong, T.N. Yamaguchi, H. Kan, T. Makino, T. Iida, T. Kato, M. Aoyama, Y. Hayakawa, M. Kumagawa. Jap. J. Appl. Phys., 36, 2614 (1997)
- Н.В. Зотова, С.А. Карандашев, Б.А. Матвеев, М.А. Ременный, Н.М. Стусь, Г.Н. Талалакин. ФТП, 33 (8), 1010 (1999)
- J.R. Meyer, C.A. Hoffman, F.J. Bartoli, L.R. Ram-Moham. Appl. Phys. Lett., 67 (6), 757 (1998)
- D.G. Gevaux, A.M. Green, C.C. Phillips. Appl. Phys. Lett., 79 (25), 4075 (2001)
- М. Айдаралиев, Н.В. Зотов, С.А. Карандашев, Н.М. Стусь. ФТП, 23 (1), 593 (1989)
- M. Pullin, X. Li, J. Heber, D. Gevaux, C. Phillips. SPIE Proc, 3938-33 (Conference on Optoelectronics, San Jose, Jan. 2000) p. 144
- A. Sugimura. J. Appl. Phys., 51, 4405 (1980)
- A. Krier, V.V. Sherstnev, H.H. Gao, A.M. Monakhov, H. Hill. Appl. Phys. Lett., 80 (16), 2821 (2002)
- Н.В. Зотова, Н.Д. Ильинская, С.А. Карандашев, Б.А. Матвеев, М.А. Ременный, Н.М. Стусь, А.А. Шленский. ФТП, 40 (3), 356 (2006)
- J.R. Dixon, J.M. Ellis. Phys. Rev., 124, 1321 (1961)
- О. Аллаберенов, Н.В. Зотова, Д.Н. Наследов, Л.Д. Неуймина. ФТП, 4, 1939 (1970)
- И.М. Несмелова, Н.С. Барышев, Б.П. Пырегов. Опт. и спектр., 27 (4), 661 (1969)
- Н.В. Зотова, Н.Д. Ильинская, С.А. Карандашев, Б.А. Матвеев, М.А. Ременный, Н.М. Стусь, В.В. Шустов, Н.Г. Тараканова. ФТП, 40 (8), 1004 (2006)
- B.A. Matveev, M. Aydaraliev, N.V. Zotova, S.A. Karandashov, N.D. Il'inskaya, M.A. Remennyi, N.M. Stus', G.N. Talalakin. IEE Proc. Optoelectron., 150, 356 (2003)
- H. Benistry, H.De Neve, C. Weibuch. IEEE J. Quant. Electron., 3, 1612 (1998)
- M. Aidaraliev, N.V. Zotova, N.D. Il'inskaya, S.A. Karandashov, B.A. Matveev, M.A. Remennyi, N.M. Stys', G.N. Talalakin. Semicond. Sci. Technol., 18, 269 (2003)
- Н.В. Зотова, Н.Д. Ильинская, С.А. Карандашев, Б.А. Матвеев, М.А. Ременный, Н.М. Стусь, В.В. Шустов. ФТП, 38 (10), 1270 (2004)
- B. Matveev, N. Zotova, N. Il'inskaya, S. Karandashov, M. Remennyi, N. Stus'. Phys. Status Solidi C, 2 (2), 927 (2005)
- M.A. Remennyi, B.A. Matveev, N.V. Zotova, S.A. Karandashov, N.M. Stus', G.N. Talalakin. Physica E: Low-Dim. Systems and Nanostructur., 20 (3--4), 548 (2004)
- V.K. Malyutenko, O.Yu. Malyutenko, A.D. Podoltsev, I.N. Kucheryavaya, B.A. Matveev, M.A. Remennyi, N.M. Stus'. Appl. Phys. Lett., 79, 4228 (2001)
- B.A. Matveev, N.V. Zotova, N.D. Il'inskaya, S.A. Karandashov, M.A. Remennyi, N.M. Stus', G.N. Talalakin. J. Mod. Opt., 49 (5/6), 743 (2002)
- M.A. Remennyi, N.V. Zotova, S.A. Karandashov, B.A. Matveev, N.M. Stus', G.N. Talalakin. Sensors Actuators B: Chemical, 91 (1--3), 256 (2003)
- B. Matveev, N. Zotova, N. Il'inskaya, S. Karandashov, M. Remennyi, N. Stus', A. Kovchavtsev, G. Kuryshev, V. Polovinkin, N. Tarakanova. Progress in Semiconductor Materials V-Novel Materials and Electronic and Optoelectronic Applications, eds L.J. Olafsen, R.M. Biefeld, M.C. Wanke, A.W. Saxler (paper N 0891-EE01-04)
- V. Malyutenko, O. Malyutenko, A. Zinovchuk, N. Zotova, S. Karandashov, B. Matveev, M. Remennyi, N. Stus'. Book of abstracts of the 6th Int. Conf. "Mid-Infrared Optoelectronics Materials and Devices (MIOMD-VI)" (June 28--July 02, 2004, St. Petersburg, Russia)
- J.P. Van der Ziel, R.S. Logan, R.M. Mikulyak, A.A. Ballman. IEEE J. Quant. Electron., QE-21 (11), 1827 (1985)
- М. Айдаралиев, Н.В. Зотова, С.А. Карандашев, Б.А. Матвеев, Н.М. Стусь, Г.Н. Талалакин. Письма ЖТФ, 13 (9), 563 (1987)
- N. Kobayashi, Y. Horikoshi. Jap. J. Appl. Phys., 19, 1641 (1980)
- Z.G. Yu, Srini Krishnamurthy. J. Opt. Soc. Amer. B, 23 (11), 2256 (2006)
- P.P. Paskov. J. Appl. Phys., 81 (4), 1890 (1977)
- A.N. Baranov, R. Teissier, D. Barate, A. Vicer, C. Alibet, C. Renard, X. Marcadet, M. Garsia, C. Sirtory. Book of abstracts of the 6th Int. Conf. "Mid-Infrared Optoelectronics Materials and Devices (MIOMD-VI)" (June 28--July 02, 2004, St. Petersburg, Russia) p. 3
- Н.П. Есина, Н.В. Зотова, И.И. Марков, Б.А. Матвеев, А.А. Рогачев, Н.М. Стусь, Г.Н. Талалакин. Журн. прикл. спектроскопии, 42 (4), 691 (1985)
- J. Malinen, T. Hannula, N.V. Zotova, S.A. Karandashov, I.I. Markov, B.A. Matveev, N.M. Stus', G.N. Talalakin. Proc. Conf. Optical Methods for Chemical Process Control" (Boston, Sept., 7--10, 1993) (SPIE, 2069, p. 95)
- В.И. Иванов-Омский, Б.А. Матвеев. ФТП, 41 (3), 257 (2007)
- N.C. Das, G. Simonis, J. Bardshaw, A. Goldberg, N. Gupta. Proc. SPIE, 5408, 136 (2004)
- S.D. Smith, A. Vass, P. Bramley, J.G. Crowder, C.H. Wang. IEE Proc. Optoelectron., 144 (5), 266 (1997)
- B.A. Matveev. Mid-Infrared Semiconductor Optoelectronics (Springer Ser. Opt. Sci., ISSN 0342-4111, 2006) p. 395
- R.C. Johnes. Appl. Opt., 1, 607 (1962)
- M.A. Remennyi, B.A. Matveev, N.V. Zotova, S.A. Karandashov, N.M. Stus', N.D. Il'inskaya. SPIE Proc. 6585 (Optical Sensing Technology and Applications), editors: Francesco Baldini, Jiri Homola, Robert A. Lieberman, Miroslav Miler. Date: 1 May 2007, ISBN: 9780819467133, 658504, DOI: 10.1117/12.722847
- М. Айдаралиев, Н.В. Зотова, С.А. Карандашёв, Б.А. Матвеев, Н.М. Стусь, Г.Н. Талалакин. ФТП, 27 (1), 21 (1993)
- M. Aidaraliev, N.V. Zotova, S.A. Karandashov, B.A. Matveev, N.M. Stus', G.N. Talalakin. Semicond. Sci. Technol., 8 (8), 1575 (1993)
- B.A. Matveev, N.V. Zotova, S.A. Karandashov, M.A. Remennyi, N.M. Stus', G.N. Talalakin. Proc. Conf. " Photodetector Materials and Devices VII" [SPIE, 4650, 173 (2002)]
- Б.И. Степанов. Основы спектроскопии отрицательных световых потоков (Минск, Мир, 1961)
- B.A. Matveev, N.V. Zotova, N.D. Il'inskaya, S.A. Karandashov, M.A. Remennyi, N.M. Stus', G.N. Talalakin. Radiation Source, US patent \# 6 876 006 with grant date 5 April 2005
- B.A. Matveev, N.V. Zotova, S.A. Karandashov, M.A. Remenniy, N.M. Stus', G.N. Talalakin. Proc. Conf. "Light-Emitting Diodes: Research, Manufacturing, and Applications V", eds H. Walter Yao, E. Fred Schubert [SPIE, 4278, 189 (2001)]
- М. Айдаралиев, Н.В. Зотова, С.А. Карандашев, Б.А. Матвеев, М.М. Ременный, Н.М. Стусь, Г.Н. Талалакин. ФТП, 36 (7), 881 (2002)
- Ю.М. Задиранов, Н.В. Зотова, Н.Д. Ильинская, С.А. Карандашев, Б.А. Матвеев, М.А. Ременный, Н.М. Стусь, А.А. Усикова. Письма ЖТФ, 34 (10), 1 (2008)
- А.А. Кузнецов, О.Б. Балашов, Е.В. Васильев, С.А. Логинов, А.И. Луговской, Е.Я. Черняк. Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика, N 6, 55 (2003)
- А.В. Сукач, В.В. Тетеркин, Н.В. Зотова, С.А. Карандашев, Б.А. Матвеев, М.А. Ременный, Н.М. Стусь, Г.Н. Талалакин. Оптоэлектрон. и полупроводн. техн., вып. 37, 215 (2002)
- А.В. Сукач, В.В. Тетеркин, С.В. Старый, Н.В. Зотова, С.А. Карандашев, Б.А. Матвеев, М.А. Ременный, Н.М. Стусь, Г.Н. Талалакин. Тез. докл. XVIII Межд. конф. по фотоэлектронике и приборам ночного видения (25-28 мая 2004 г., Москва) с. 29
- B.A. Matveev, N.V. Zotova, S.A. Karandashov, M.A. Remennyi, N.M. Stus', G.N. Talalakin. Proc. 1st Int. Conf. on Advanced Optoelectronics and Lasers (CAOL'2003) (Sept. 16--20, 2003 Alushta, Crimea, Ukraine) v. 2, p. 138.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.