Низкоплотные массивы комплексов тройных квантовых точек InAs/GaAs(111)B
Российский научный фонд, Президентская программа исследовательских проектов, реализуемых ведущими учеными, в том числе молодыми учеными, 23-79-10313
Министерство науки и высшего образования РФ, Государственное задание Министерства науки и высшего образования РФ в области научной деятельности, FENW-2025-0004
Балакирев С.В.
1, Солодовник Н.Е.
1, Шандыба Н.А.
1, Духан Д.Д.
1, Ерёменко М.М.
1, Солодовник М.С.
11Лаборатория эпитаксиальных технологий, Южный федеральный университет, Таганрог, Россия
Email: sbalakirev@sfedu.ru
Поступила в редакцию: 31 марта 2026 г.
В окончательной редакции: 15 июля 2026 г.
Принята к печати: 15 июля 2026 г.
Выставление онлайн: 7 сентября 2026 г.
Представлен подход по эпитаксиальному формированию упорядоченных комплексов тройных квантовых точек InAs/GaAs в треугольной конфигурации с низкой поверхностной плотностью (0.25-1 мкм-2). Квантовые точки формируются в вершинах оснований пирамидальных углублений на подложках GaAs(111)B, структурированных с использованием методики на основе комбинации фокусированных ионных пучков и локального капельного травления. Расстояние между точками в комплексе определяется топологией структурирования подложки и возрастает с увеличением периода воздействия пучка. Оптимизация параметров структурирования позволяет обеспечить высокую селективность тройных квантовых точек в углублениях. Спектры фотолюминесценции квантовых точек демонстрируют излучение в диапазоне 900-1150 нм с интенсивностью, возрастающей при увеличении дозы ионов и уменьшении периода воздействия пучка. Ключевые слова: квантовые точки, InAs, GaAs(111)B, эпитаксия, фокусированные ионные пучки.
- H. Wang, T.C. Ralph, J.J. Renema, C.-Y. Lu, J.-W. Pan. Nature Materials, 24 (12), 1883 (2025). DOI: 10.1038/s41563-025-02306-7
- T. Aizawa, M. Shinozaki, Y. Fujiwara, T. Kumasaka, W. Izumida, A. Ludwig, A.D. Wieck, T. Otsuka. Phys. Rev. B, 110 (23), 235421 (2024). DOI: 10.1103/PhysRevB.110.235421
- K. Baba, K. Noro, Y. Kozuka, T. Kumasaka, M. Shinozaki, M. Kawasaki, T. Otsuka. Sci. Rep., 15, 36612 (2025). DOI: 10.1038/s41598-025-20567-9
- Y. Qi, J.-H. Wei. Chinese Physics B, 33 (5), 057301 (2024). DOI: 10.1088/1674-1056/ad2d54
- H. Rahman, I. Khan, S. Yousaf, H. Bibi, S. Ali, H. Ali, S. Haddadi. Phys. Lett. A, 475, 128864 (2023). DOI: 10.1016/j.physleta.2023.128864
- J. Li, S. Dong, J. Wei. Chinese Physics B, 35 (2), 020302 (2026). DOI: 10.1088/1674-1056/adec5d
- A.V. Tsukanov. Optical Quant. Electron., 57 (7), 424 (2025). DOI: 10.1007/s11082-025-08337-3
- J.-H. Kang, H. Ryu. Solid-State Electron., 213, 108863 (2024). DOI: 10.1016/j.sse.2024.108863
- K.W. Chan, H. Sahasrabudhe, W. Huang, Y. Wang, H.C. Yang, M. Veldhorst, J.C.C. Hwang, F.A. Mohiyaddin, F.E. Hudson, K.M. Itoh, A. Saraiva, A. Morello, A. Laucht, R. Rahman, A.S. Dzurak. Nano Lett., 21 (3), 1517 (2021). DOI: 10.1021/acs.nanolett.0c04771
- J.-Y. Wang, S. Huang, G.-Y. Huang, D. Pan, J. Zhao, H.Q. Xu. Nano Lett., 17 (7), 4158 (2017). DOI: 10.1021/acs.nanolett.7b00927
- H. Yao, C.-P. Cheng, L.-L. Li, R. Guo, Y. Guo, C. Zhang. Nanoscale Adv., 5 (4), 1199 (2023). DOI: 10.1039/d2na00838f
- M. Seo, H.K. Choi, S.-Y. Lee, N. Kim, Y. Chung, H.-S. Sim, V. Umansky, D. Mahalu. Phys. Rev. Lett., 110 (4), 046803 (2013). DOI: 10.1103/PhysRevLett.110.046803
- Y. Qi, Y.-M. Liu, Y.-D. Wang, J.-H. Wei, Z.-G. Zhu. Chinese Physics B, 32 (8), 087304 (2023). DOI: 10.1088/1674-1056/acd36c
- J. Li, Y. Qi, Y. Wang, J. Wei. Quant. Inf. Process., 24 (8), 241 (2025). DOI: 10.1007/s11128-025-04856-w
- E. Kersting, H.-G. Babin, N. Spitzer, J.-Y. Yan, F. Liu, A.D. Wieck, A. Ludwig. Nanomaterials, 15 (3), 157 (2025). DOI: 10.3390/nano15030157
- I.M. Masson, A. Hageman, C. Whittier, D. Montealegre, B. Kamaliya, N.D. Bassim, J.P. Prineas, R. Uppu. ACS Nano, 20 (3), 2872 (2026). DOI: 10.1021/acsnano.5c17982
- C. Heyn, A. Stemmann, T. Koppen, C. Strelow, T. Kipp, M. Grave, S. Mendach, W. Hansen. Appl. Phys. Lett., 94 (18), 183113 (2009). DOI: 10.1063/1.3133338
- Y.H. Huo, A. Rastelli, O.G. Schmidt. Appl. Phys. Lett., 102 (15), 152105 (2013). DOI: 10.1063/1.4802088
- X. Zhao, W. Liu, Y. Bao, X. Chen, C. Ji, G. Yang, B. Wei, F. Yang, X. Wang. Nanotechnology, 36 (5), 052001 (2025). DOI: 10.1088/1361-6528/ad8d61
- J. Lee, T.W. Saucer, A.J. Martin, D. Tien, J.M. Millunchick, V. Sih. Nano Lett., 11 (3), 1040 (2011). DOI: 10.1021/nl1038902
- L.N. McCabe, J.M.O. Zide. J. Vac. Sci. Technol. A, 39 (1), 010802 (2021). DOI: 10.1116/6.0000623
- S. Scholz, R. Schott, M. Schmidt, M. Mehta, A. Ludwig, A.D. Wieck. Phys. Status Solidi B, 256 (7), 1800375 (2019). DOI: 10.1002/pssb.201800375
- H. McKay, P. Rudzinski, A. Dehne, J.M. Millunchick. Nanotechnology, 18 (45), 455303 (2007). DOI: 10.1088/0957-4484/18/45/455303
- N.E. Chernenko, I.S. Makhov, I.A. Melnichenko, K.D. Yakunina, S.V. Balakirev, N.V. Kryzhanovskaya, M.S. Solodovnik. St. Petersbg. Polytech. Univ. J. Phys. Math., 17 (3.1), 38 (2024). DOI: 10.18721/JPM.173.107
- S.V. Balakirev, N.E. Chernenko, E.A. Lakhina, D.V. Kirichenko, N.A. Shandyba, D.D. Dukhan, M.M. Eremenko, M.S. Solodovnik. Nanobiotechnol. Rep., 19 (S1), S37 (2024). DOI: 10.1134/S2635167624602341
- M.S. Solodovnik, D.V. Kirichenko, D.D. Dukhan, N.E. Chernenko, I.S. Makhov, N.A. Shandyba, M.M. Eremenko, N.V. Kryzhanovskaya, S.V. Balakirev. Appl. Surf. Sci., 688, 162373 (2025). DOI: 10.1016/j.apsusc.2025.162373
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.