Фотолюминесценция эпитаксиальных слоев Hg0.3Cd0.7Te и Hg0.7Cd0.3Te
Ружевич М.С.
1, Мынбаев К.Д.
1,2, Баженов Н.Л.
2, Варавин В.С.
3, Ремесник В.Г.
3, Михайлов Н.Н.
3, Якушев М.В.
31Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
3Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
Email: max.ruzhevich@niuitmo.ru, mynkad@mail.ioffe.ru, bazhnil.ivom@mail.ioffe.ru, varavin@isp.nsc.ru, remesnik@isp.nsc.ru, mikhailov@isp.nsc.ru, yakushev@isp.nsc.ru
Поступила в редакцию: 11 мая 2023 г.
В окончательной редакции: 17 июля 2023 г.
Принята к печати: 30 октября 2023 г.
Выставление онлайн: 30 декабря 2023 г.
Представлены результаты исследования фотолюминесценции слоев твердых растворов Hg0.3Cd0.7Te и Hg0.7Cd0.3Te, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Сопоставление данных фотолюминесценции с результатами измерения оптического пропускания, структурных и микроскопических исследований показало, что по степени разупорядочения твердого раствора исследованные слои Hg0.7Cd0.3Te не уступают по качеству материалу, синтезированному другими методами. Для слоев Hg0.3Cd0.7Te данные фотолюминесценции выявили существенные флуктуации состава и присутствие акцепторных состояний, что свидетельствует о необходимости оптимизации технологии. Ключевые слова: твердые растворы, HgCdTe, фотолюминесценция, дефекты.
- M. Kopytko, A. Rogalski. Sensors Actuators: A. Phys., 339, 113511 (2022). DOI: 10.1016/j.sna.2022.113511
- J. Chen, J. Wang, X. Li, J. Chen, F. Yu, J. He, J. Wang, Z. Zhao, G. Li, X. Chen, W. Lu. Sensors, 22 (2), 677 (2022). DOI: 10.3390/s22020677
- A. Drago, E. Pace, S. Bini, M. Cestelli Guidi, F. Cioeta, A. Marcelli, V. Bocci. J. Instrument., 18 (2), C02012 (2023). DOI: 10.1088/1748-0221/18/02/C02012
- D. Yang, J. Lin, C. Lin, X. Wang, S. Zhou, H. Guo, R. Ding, L. He. Solid-State Electron., 205, 108665 (2023). DOI: 10.1016/j.sse.2023.108665
- В.В. Уточкин, А.А. Дубинов, М.А. Фадеев, В.В. Румянцев, Н.Н. Михайлов, С.А. Дворецкий, В.И. Гавриленко, С.В. Морозов. ФТП, 55 (10), 922 (2021). DOI: 10.21883/FTP.2021.10.51445.49
- N. Mokdad, F.Z. Mami, N. Boukli-Hacene, K. Zitouni, A. Kadri. J. Appl. Phys., 132 (17), 175702 (2022). DOI: 10.1063/5.0101924
- V.V. Rumyantsev, A.A. Razova, M.A. Fadeev, V.V. Utochkin, N.N. Mikhailov, S.A. Dvoretsky, V.I. Gavrilenko, S.V. Morozov. Opt. Eng., 60 (8), 082007 (2021). DOI: 10.1117/1.OE.60.8.082007
- М.В. Якушев, В.С. Варавин, В.Г. Ремесник, Д.В. Марин. ФТП, 48 (6), 788 (2014)
- М.С. Ружевич, К.Д. Мынбаев, Н.Л. Баженов, М.В. Дорогов, С.А. Дворецкий, Н.Н. Михайлов, В.Г. Ремесник, И.Н. Ужаков ФТТ, 65 (3), 411 (2023). DOI: 10.21883/FTT.2023.03.54738.552
- Д.А. Андрющенко, М.С. Ружевич, А.М. Смирнов, Н.Л. Баженов, К.Д. Мынбаев, В.Г. Ремесник. ФТП, 55 (11), 1040 (2021). DOI: 10.21883/FTP.2021.11.51558.9689
- К.Д. Мынбаев, Н.Л. Баженов, А.М. Смирнов, Н.Н. Михайлов, В.Г. Ремесник, М.В. Якушев. ФТП, 54 (12), 1302 (2020). DOI: 10.21883/FTP.2020.12.50229.9497
- C.R. Becker, V. Latussek, A. Pfeuffer-Jeschke, G. Landwehr, L.W. Molenkamp. Phys. Rev. B, 62 (15), 10353 (2000). DOI: 10.1103/PhysRevB.62.10353
- A. Lusson, F. Fuchs, Y. Marfaing. J. Crys. Growth, 101 (1-4), 673 (1990). DOI: 10.1016/0022-0248(90)91056-V
- P. Gille, K.H. Herrmann, N. Puhlmann, M. Schenk, J.W. Tomm, L. Werner. J. Cryst. Growth, 86 (1-4), 593 (1988). DOI: 10.1016/0022-0248(90)90781-F
- C.R. Becker, T.N. Casselman, C.H. Grein, S. Sivananthan. Molecular Beam Epitaxy of HgCdTe Materials and Detectors, Chap. 6.04 in: Comprehensive Semiconductor Science and Technology, ed. by P. Bhattacharya, R. Fornari and H. Kamimura (Elsevier, Amsterdam, 2011) v. 6, p. 128. DOI: 10.1016/B978-0-44-453153-7.00015-8
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.