Вышедшие номера
Измерение теплового сопротивления торцевых полупроводниковых лазеров по спектрам спонтанного излучения
Российский научный фонд, 22-22-00557
Паюсов А.С. 1, Бекман А.А.1, Корнышов Г.О. 2, Шерняков Ю.М. 1, Максимов М.В. 2, Гордеев Н.Ю. 1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Академический университет им. Ж.И. Алфёрова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
Email: plusov@mail.ioffe.ru, supergrigoir@gmail.com, yuri.shernyakov@mail.ioffe.ru, maximov.mikh@gmail.com, gordeev@switch.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 2 декабря 2022 г.
В окончательной редакции: 8 декабря 2022 г.
Принята к печати: 8 декабря 2022 г.
Выставление онлайн: 14 января 2023 г.

Предложен усовершенствованный метод измерения теплового сопротивления торцевых лазерных диодов с помощью спектров спонтанного излучения, измеренных в режиме лазерной генерации через окно в n-контакте. Преимуществом предложенного метода является исключение систематических ошибок, возникающих при измерении теплового сопротивления по спектрам лазерной генерации. Точность метода экспериментально проверена при измерении зависимости теплового сопротивления лазерных диодов с шириной полоскового контакта 100 мкм от длины резонатора. Полученные экспериментальные данные хорошо согласуются с результатами расчетов, минимальная погрешность измерений составила ±0.1 K/Вт. Предложенная методика может быть использована для метрологического сопровождения производства полупроводниковых лазеров. Ключевые слова: лазерный диод, тепловое сопротивление, спонтанное излучение.
  1. V. Gapontsev, N. Moshegov, I. Berezin, A. Komissarov, P. Trubenko, D. Miftakhutdinov, I. Berishev, V. Chuyanov, O. Raisky, A. Ovtchinnikov. SPIE LASE (February 22, 2017, San Francisco, California, USА) p. 1008604
  2. B.S. Ryvkin, E.A. Avrutin. J. Appl. Phys., 97, 113106 (2005)
  3. D.A. Veselov, Y.K. Bobretsova, A.A. Klimov, K.V. Bakhvalov, S.O. Slipchenko, N.A. Pikhtin. Semicond. Sci. Technol., 36, 115005 (2021)
  4. T.W. Hansch, G.T. Kamiya, T.F. Krausz, G.B. Monemar, L.M. Ohtsu, T.H. Venghaus, B.H. Weber, B.H. Weinfurter. High Power Diode Lasers (Springer New York, N.Y., 2007)
  5. P. Crump, H. Wenzel, G. Erbert, G. Trankle. SPIE LASE (8 February, 2012, San Francisco, California, USA) p. 82410U
  6. F. Klopf, S. Deubert, J.P. Reithmaier, A. Forchel. Appl. Phys. Lett., 81, 217 (2002)
  7. N.K. Dutta, J. Jaques, A.B. Piccirilli. Electron. Lett., 38, 513 (2002)
  8. V.V Bezotosnyi, O.N. Krokhin, V.A. Oleshchenko, V.F. Pevtsov, Y.M. Popov, E.A. Cheshev. Quant. Electron., 46, 679 (2016)
  9. A.S. Payusov, N.Y. Gordeev, A.A. Serin, M.M. Kulagina, N.A. Kalyuzhnyy, S.A. Mintairov, M.V. Maximov, A.E. Zhukov. Semiconductors, 52, 1901 (2018)
  10. Ю.М. Шерняков, Н.Ю. Гордеев, А.С. Паюсов, А.А. Серин, Г.О. Корнышов, А.М. Надточий, М.М. Кулагина, С.А. Минтаиров, Н.А. Калюжный, М.В. Максимов, А.Е. Жуков. ФТП, 55, 256 (2021)
  11. E. Burstein. Phys. Rev., 93, 632 (1954)
  12. A.A. Beckman, A.S. Payusov, G.O. Kornyshov, Y.M. Shernyakov, S.A. Mintairov, N.A. Kalyuzhnyy, M.M. Kulagina, M.V. Maximov, N.Y. Gordeev. 2022 Int. Conf. Laser Opt. (June 20--24, 2022, Saint Petersburg) p. 1
  13. А.Н. Зайдель. Ошибки измерений физических величин (Л., Наука, Ленингр. отд-ние, 1974)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.