Исследование взаимосвязи механических напряжений, оптической неоднородности и концентрации кислорода в кристаллах германия
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Научно-технологическое развитие РФ, FSRZ-2020-0013
Шиманский А.Ф.
1, Кравцова Е.Д.
1, Кулаковская Т.В.
2, Григорович А.П.
2, Копыткова С.А.
2, Смирнов А.Д.
31Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия
2АО "Германий", Красноярск, Россия
3ЗАО Группа СТР“, Санкт-Петербург, Россия
Email: shimanaf@mail.ru
Поступила в редакцию: 8 ноября 2021 г.
В окончательной редакции: 15 ноября 2021 г.
Принята к печати: 15 ноября 2021 г.
Выставление онлайн: 26 декабря 2021 г.
Представлены результаты исследования радиального распределения механических напряжений, концентрации кислорода и оптической неоднородности в кристаллах германия диаметром 200 мм, легированных сурьмой, с удельным электрическим сопротивлением от 10.5 до 18.5 Ом · см, выращенных по методу Чохральского. Установлено, что остаточные напряжения, рассчитанные по данным рентгеноструктурного анализа, коррелируют с результатами численного моделирования термоупругих напряжений и взаимосвязаны со значениями оптической неоднородности и концентрации растворенного кислорода, присутствующего в германии в атомарно-диспергированном состоянии. Ключевые слова: германий, монокристаллы, механические напряжения, оптическая неоднородность, примесь кислорода.
- F. Dimroth, S. Kurtz. MRS Bull., 32 (3), 230 (2007). DOI: 10.1557/mrs2007.27
- A. Luque, S. Hegedus. Handbook Photovoltaic Science and Engineering (John Wiley \& Sons Ltd., Chichester, 2003)
- C.L. Claeys, E. Simoen. Germanium-Based Technologies: from Materials to Devices (Elsevier B.V, Amsterdam, 2007)
- C.L. Claeys, E. Simoen. Extended Defects in Germanium: Fundamental and Technological Aspects (Springer, Berlin [etc.], 2009)
- B. Depuydt, A. Theuwis, I. Romandic. Mater. Sci. Semicond. Process., 9 (4-5), 437 (2006). DOI: 10.1016/j.mssp.2006.08.002
- K. Seref, I. Romandic, A. Theuwis. Mater. Sci. Semicond. Process., 9 (4-5), 753 (2006). DOI: 10.1016/j.mssp.2006.08.035
- A. Chroneos, R.V. Vovk. J. Mater. Sci. Mater. Electron., 26 (10), 7378 (2015). DOI: 10.1007/s10854-015-3367-7
- T. Taishi, Y. Ohno, I. Yonenaga. J. Cryst. Growth, 311 (22), 4615 (2009). DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2009.09.001
- T. Taishi, H. Ise, Y. Murao, T. Osawa, M. Suezawa, Y. Tokumoto, Y. Ohno, K. Hoshikawa, I. Yonenaga. J. Cryst. Growth, 312 (19), 2783 (2010). DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2010.05.045
- V.I. Talanin, I.E. Talanin. J. Cryst. Growth, 552 125928 (2020). DOI: 0.1016/j.jcrysgro.2020.125928
- K. Sueoka, J. Vanhellemont. Mater. Sci. Semicond. Process., 9 (4-5), 494 (2006). DOI: 10.1016/j.mssp.2006.08.004
- Y. Murao, T. Taishi, Y. Tokumoto, Y. Ohno, I. Yonenaga. J. Appl. Phys., 109 (11), 113502 (2011). DOI: 10.1063/1.3592226
- CGSim package for analysis and optimization of Cz, LEC, VCz, and Bridgman growth of semiconductor and semitransparent crystals // STR [site]. URL: http://www.str-soft.com/products/CGSim/
- A.F. Shimanskii, O.I. Podkopaev, V.N. Baranov. Adv. Mater. Res., 1101, 115 (2015). DOI: 10.4028/www.scientific.net/AMR.1101.115
- И.А. Каплунов, В.Е. Рогалин, М.Ю. Гавалян. Опт. и спектр., 118 (2), 254 (2015). DOI: 10.7868/S0030403415020087 [I.A. Kaplunov, V.E. Rogalin, M.Y. Gavalyan. Opt. Spectrosc., 118 (2), 240 (2015). DOI: 10.1134/S0030400X15020083]
- M. Roth, M. Azoulay, G. Gafni, M. Mizrachi. J. Cryst. Growth, 99 (1-4), 670 (1990)
- V.V. Artemyev, A.D. Smirnov, V.V. Kalaev, V.M. Mamedov, A.P. Sidko, O.I. Podkopaev, E.D. Kravtsova, A.F. Shimansky. J. Cryst. Growth, 468, 443 (2017). DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2017.01.032
- A.S. Cooper. Acta Cryst., 15, 578 (1962). DOI: 10.1107/S0365110X62001474
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.