"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Изучение электронных свойств пленок гидрогенизированного аморфного кремния методами фемтосекундной спектроскопии
Севастьянов М.Г1, Лобков В.С.2, Шмелев А.Г.2, Леонтьев А.В.2, Матухин В.Л.1, Бобыль А.В.3, Теруков Е.И.3,2, Кукин А.В.3,4
1Казанский государственный энергетический университет, Казань, Россия
2Казанский физико-технический институт Казанского научного центра Российской академии наук, Казань, Россия
3Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
4ООО НТЦ тонкопленочных технологий в энергетике при Физико-техническом институте им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 25 февраля 2013 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2013 г.

-1 Представлены результаты экспериментов по измерению методом наведенной дифракционной решетки времени релаксации и коэффициента диффузии электронов в пленках аморфного гидрогенизированного кремния с собственным и электронным типами проводимости при комнатной температуре. Получены значения времени релаксации электронов для этих пленок, равные 1 нс и 465 пс, и коэффициента диффузии 0.54 и 0.83 см2/с. Обнаружено, что при увеличении энергии импульсов время спада сигнала наведенной решетки сокращается.
  • А.Г. Казанский, Е.И. Теруков, П.А. Форш, М.В. Хенкин. ФТП, 45, 518 (2011)
  • D.V. Tsu, B.S. Chao, S.R. Ovshinsky, S.J. Jones, J. Yang, S. Guha, R. Tsu. Phys. Rev. B, 63, 125 338 (2001)
  • S. Muthamann, F. Kohler, R. Carius, A. Gordijn. Phys. Status Solidi A, 207, 544 (2010)
  • M. Ledinsky, L. Fekete, J. Stuchlik, T. Mates, A. Fejfar, J. Kocka. J. Non-Cryst. Sol., 352, 1209 (2006)
  • A.G. Kazanskii, G. Kong, X. Zeng, H. Hao, F. Liu. J. Non-Cryst. Sol., 354, 2282 (2008)
  • С.Ф. Галяутдинов, В.С. Лобков, С.А. Моисеев, И.В. Неграшов. ФТП, 35, 1428 (2001)
  • N. Gedik, J. Orenstein. Optics Lett., 29 (18), (2004)
  • М.Г. Севастьянов, В.С. Лобков, А.Г. Шмелев, А.В. Леонтьев, В.Л. Матухин, А.В. Бобыль, Е.И. Теруков. Сб. тр. VIII Междунар. конф. "Аморфные и микрокристаллические полупроводники" (СПб., 2012) с 34
  • J.P. Woerdman. Optics Commun., 2 (5), 212 (1970)
  • В.С. Лобков, С.А. Моисеев, Е.А. Штырков. Опт. и спектр., 64 (1), 79 (1988)
  • S.C. Moss, J.R. Lindle, H.J. Mackey, A.L. Smirl. Appl. Phys. Lett., 39, 227 (1981)
  • Thin film solar cells fabrication, characterization and applications, ed. by J. Poortmans, V. Arkhipov (Chichester, John Wiley \& Sons Ltd, 2006) p. 184
  • А.В. Емельянов, А.Г. Казанский, П.К. Кашкаров, О.И. Коньков, Е.И. Теруков, П.А. Форш, М.В. Хенкин, А.В. Кукин, M. Beresna, P. Kazansky. ФТП, 46 (6), 769 (2012)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.