"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Разогрев и релаксация энергии электронно-дырочного газа в треке первичного атома отдачи
Переводная версия: 10.1134/S1063782620080205
Министерство науки и высшего образования РФ , Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2014-2020 годы, RFMEFI62020X0003
Пузанов А.С.1,2, Оболенский С.В. 1,2, Козлов В.А. 3
1Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
2Филиал "Российского федерального ядерного Всероссийского научно-исследовательского института экспериментальной физики" "Научно-исследовательский институт измерительных систем им. Ю.Е. Седакова", Нижний Новгород, Россия
3Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
Email: obolensk@rf.unn.ru, kozlov@ipm.sci-nnov.ru
Поступила в редакцию: 15 апреля 2020 г.
В окончательной редакции: 21 апреля 2020 г.
Принята к печати: 21 апреля 2020 г.
Выставление онлайн: 11 мая 2020 г.

На основе алгоритма Монте-Карло разработан метод расчета энергетического спектра горячих неравновесных электронов и дырок в треке первичного атома отдачи при воздействии одиночных быстрых нейтронов. Проведены расчеты разогрева и последующей релаксации неравновесных носителей заряда в кремнии в треке заряженной частицы с начальными энергиями в диапазоне 50-200 кэВ. Получены характерные температуры электронной и дырочной плазмы, которые составили 5400 и 2700 K соответственно. Обсуждается влияние радиационно-индуцированного разогрева носителей заряда на сбоеустойчивость элементов статической памяти. Ключевые слова: первичный атом отдачи, обратимый одиночный сбой, горячие носители.
  1. Ю. Пожела. Физика быстродействующих транзисторов (Вильнюс, Мокслас, 1989)
  2. М. Шур. Современные приборы на основе арсенида галлия (М., Мир, 1991)
  3. А.М. Митерев. Успехи физ. наук, 172 (10), 1131 (2002)
  4. Ф.Ф. Комаров. Успехи физ. наук, 173 (12), 1287 (2003)
  5. Ф.Ф. Комаров. Успехи физ. наук, 187 (5), 465 (2017)
  6. R.D. Narayan, R. Miranda, P. Rez. J. Appl. Phys., 111 (6), 064910 (2012)
  7. P.A. Wolff. Phys. Rev., 95 (6), 1415 (1954)
  8. E.O. Kane. Phys. Rev., 159 (3), 624 (1967)
  9. У. Шокли. Успехи физ. наук, 77 (1), 161 (1962)
  10. F.R. McFeely, E. Cartier, L.J. Terminello, A. Santoni, M.V. Fischetti. Phys. Rev. Lett., 65 (15), 1937 (1990)
  11. E. Cartier, F.R. McFeely. Phys. Rev. B., 44 (19), 10689 (1991)
  12. E.A. Eklund, P.D. Kirchner, D.K. Shuh, F.R. McFeely, E. Cartier. Phys. Rev. Lett., 68 (6), 831 (1992)
  13. N. Medvedev, B. Rethfeld. New J. Physics, 12, 073037 (2010)
  14. А.Г. Кадменский. Вопросы атомной науки и техники. Сер. Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру, 1-2, 76 (1999)
  15. Г.М. Филиппов. ФТТ, 17 (7), 1920 (1977)
  16. А.С. Пузанов, М.М. Венедиктов, С.В. Оболенский, В.А. Козлов. ФТП, 53 (9), 1250 (2019)
  17. А.С. Пузанов, С.В. Оболенский, В.А. Козлов. ФТП, 52 (11), 1295 (2018)
  18. И.Ю. Забавичев, А.А. Потехин, А.С. Пузанов, С.В. Оболенский, В.А. Козлов. ФТП, 53 (9), 1279 (2019)
  19. M. Bo, G. Yong, S. Yi, Z. Hongwei, Z. Xing, L. Bo, L. Mengxin. 2018 IEEE 2nd Int. Conf. on Circuits, System and Simulation, p. 5
  20. M.L. Cohen, T.K. Bergstresser. Phys. Rev., 141 (2), 789 (1966)
  21. А.С. Пузанов, С.В. Оболенский. Вопросы атомной науки и техники. Сер. Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру, 3, 46 (2010)
  22. А.С. Пузанов, С.В. Оболенский, С.Г. Петров. Вопросы атомной науки и техники. Сер. Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру, 2, 10 (2011)
  23. А.С. Пузанов, С.В. Оболенский. Микроэлектроника, 41 (4), 304 (2012)
  24. Р. Хокни, Дж. Иствуд. Численное моделирование методом частиц (М., Мир, 1987) 640 с
  25. J.Y. Tang, K. Hess. J. Appl. Phys., 54 (9), 5139 (1983)
  26. T. Kotani, M. van Schilfgaarde. Phys. Rev. B, 81 (12), 125201 (2010)
  27. C. Canali, C. Jacoboni, F. Nava, G. Ottaviani, A. Alberigi-Quaranta. Phys. Rev. B., 12 (4), 2265 (1975)
  28. C. Jacoboni, L. Reggiani. Rev. Mod. Phys., 55 (3), 645 (1983)
  29. M. Fischetti, S. Laux. Phys. Rev. B., 38 (14), 9721 (1988)
  30. C.R. Crowell, S.M. Sze. Appl. Phys. Lett., 9 (6), 242 (1966)
  31. В.К. Киселев, С.В. Оболенский, А.С. Пузанов, А.В. Скупов. Журнал радиоэлектроники, 17 (2), 10 (2014)
  32. К.О. Петросянц, И.А. Харитонов, Е.В. Орехов, Л.М. Самбурский, А.П. Ятманов, А.В. Воеводин. Сб. тр. 5-й Всеросс. науч.-техн. конф. "Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем --- 2012" (М., ФГБУ ИППМ РАН, 2012) с. 413
  33. S. DasGupta. M.S. thesis, Dept. Electrion. Eng. and Comp. Science ( Vanderbilt University, Dec. 2007) p. 116

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.