Вышедшие номера
Home » Физика и техника полупроводников » Год 2020, выпуск 2 » Статья стр. 212
<<<>>>
Сравнительный анализ инжекционных микродисковых лазеров на основе квантовых ям InGaAsN и квантовых точек InAs/InGaAs
DOI: 10.21883/FTP.2020.02.48907.9290
Переводная версия: 10.1134/S1063782620020177
РФФИ, офи-м, 16-29-03127
Минобрнауки России, ГЗ, 3.9787.2017/8.9
Моисеев Э.И.1, Максимов М.В.1, Крыжановская Н.В.1,2, Симчук О.И.1, Кулагина М.М.3, Кадинская С.А.1, Guina M.4, Жуков А.Е.1,2
1Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет имени Ж.И. Алфёрова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
3Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
4Tampere University of Technology, Tampere, Finland
Email: zhukale@gmail.com
Поступила в редакцию: 20 октября 2019 г.
Выставление онлайн: 20 января 2020 г.
PDF версия
Представлены результаты сравнительного анализа спектральных и пороговых характеристик работающих при комнатной температуре инжекционных микродисковых лазеров спектрального диапазона 1.2хх мкм с разной активной областью: квантовые ямы InGaAsN/GaAs или квантовые точки InAs/InGaAs/GaAs. Обнаружено, что микролазеры сравнимого с квантовыми ямами размера обладают большими значениями порога лазерной генерации по сравнению с микролазерами с квантовыми точками. В то же время последние характеризуются заметно меньшей долей излучаемой мощности, приходящейся на лазерные моды. Также для них характерен перескок к генерации через возбужденный оптический переход. Этих недостатков лишены микродисковые лазеры на основе InGaAsN. Ключевые слова: микролазер, квантовые ямы, квантовые точки, азотсодержащие полупроводники.
  1. A.F.J. Levi, R.E. Slusher, S.L. McCall, T. Tanbuk-Ek, D.L. Coblentz, S.J. Perton. Electron. Lett., 28, 1010 (1992)
  2. L. Zhang. E. Hu. Appl. Phys. Lett., 82, 319 (2003)
  3. A.K. Sokol, R.P. Sarzala. Opt. Appl., 43, 325 (2013)
  4. M.-H. Mao, H.-C. Chien, J.-Z. Hong, C.-Y. Cheng. Opt. Express, 19, 14145 (2011)
  5. E. Moiseev, N. Kryzhanovskaya, M. Maximov, F. Zubov, A. Nadtochiy, M. Kulagina, Y. Zadiranov, N. Kalyuzhnyy, S. Mintairov, A. Zhukov. Optics. Lett., 43, 4554 (2018)
  6. Y. Wan, J. Norman, Q. Li, M.J. Kennedy, D. Liang, C. Zang, D. Huang, Z. Zhang, A.Y. Liu, A. Torres, D. Jung, A.C. Gossard, E.L. Hu, K.M. Lau, J.E. Bowers. Optica, 4, 940 (2017)
  7. N.V. Kryzhanovskaya, E.I. Moiseev, Y.S. Polubavkina, M.V. Maximov, D.V. Mokhov, I.A. Morozov, M.M. Kulagina, Y.M. Zadiranov, A.A. Lipovskii, M. Tang, M. Liao, J. Wu, S. Chen, H. Liu, A.E. Zhukov. Laser Phys. Lett., 15, 015802 (2018)
  8. Y.-D. Yang, Y. Zhang, Y.-Z. Huang, A.W. Poon. Opt. Express, 22, 824 (2014)
  9. Y. Wan, D. Inoue, D. Jung, J.C. Norman, C. Shang, A.C. Gossard, J.E. Bowers. Photon. Res., 6, 776 (2018)
  10. N.V. Kryzhanovskaya, E.I. Moiseev, F.I. Zubov, A.M. Mozharov, M.V. Maximov, N.A. Kalyuzhnyy, S.A. Mintairov, M.M. Kulagina, S.A. Blokhin, K.E. Kudryavtsev, A.N. Yablonskiy, S.V. Morozov, Yu. Berdnikov, S. Rouvimov, A.E. Zhukov. Photon. Res., 7, 664 (2019)
  11. A. Kapsalis, D. Syvridis, U. Troppenz, M. Hamacher, H. Heidrich. Proc. Conf. Optical Fiber Communication/National Fiber Optic Engineers Conf. (2008) p. 2917
  12. N.V. Kryzhanovskaya, E.I. Moiseev, Yu.V. Kudashova, F.I. Zubov, A.A. Lipovskii, M.M. Kulagina, S.I. Troshkov, Yu.M. Zadiranov, D.A. Livshits, M.V. Maximov, A.E. Zhukov. Electron. Lett., 51, 1354 (2015)
  13. T. Ide, T. Baba, J. Tatebayashi, S. Iwamoto, T. Nakaoka, Y. Arakawa. Appl. Phys. Lett., 85, 1326 (2004)
  14. Y. Wan, Q. Li, A.Y. Liu, A.C. Gossard, J.E. Bowers, E.L. Hu, K.M. Lau. Appl. Phys. Lett., 109, 011104 (2016)
  15. Ф.И. Зубов, Н.В. Крыжановская, Э.И. Моисеев, Ю.С. Полубавкина, О.И. Симчук, М.М. Кулагина, Ю.М. Задиранов, С.И. Трошков, А.А. Липовский, М.В. Максимов, А.Е. Жуков. ФТП, 50, 1425 (2016)
  16. K. Nakahara, M. Kondow, T. Kitatani, M.C. Larson, K. Uomi. IEEE Photon. Technol. Lett., 10, 487 (1998)
  17. E.I. Moiseev, M.V. Maximov, A.M. Nadtochiy, N.V. Kryzhanovskaya, D.A. Sannikov, T. Yagafarov, M. Kulagina, T. Niemi, R. Isoaho, M. Guina, A.E. Zhukov. IOP J. Phys.: Conf. Ser., 1124, 081048 (2018)
  18. E.A. Viktorov, P. Mandel, Y. Tanguy, J. Houlihan, G. Huyet. Appl. Phys. Lett., 87, 053113 (2005)
  19. V.V. Korenev, A.V. Savelyev, A.E. Zhukov, A.V. Omelchenko, M.V. Maximov. Appl. Phys. Lett., 102, 112101 (2013)
  20. N.V. Kryzhanovskaya, M.V. Lebedev, T.V. Lvova, Yu.V. Kudashova, I.I. Shostak, E.I. Moiseev, A.E. Zhukov, M.V. Maximov, M.M. Kulagina, A.M. Nadtochiy, S.I. Troshkov. IOP J. Phys.: Conf. Ser., 643, 012043 (2015)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme