Высокоомный антимонид галлия, полученный методом газофазной эпитаксии из металлорганических соединений
Левин Р.В.
1, Власов А.С.
1, Смирнов А.Н.
1, Пушный Б.В.
11Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: Lev@vpegroup.ioffe.ru, vlasov@scell.ioffe.ru, alex.smirnov@mail.ioffe.ru, pushnyi@vpegroup.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 10 июля 2019 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2019 г.
Представлены результаты исследований преднамеренно не легированных эпитаксиальных слоев p-GaSb, выращенных методом газофазной эпитаксии из металлорганических соединений при соотношении TMSb/TEGa от 1 до 50. При соотношении TMSb/TEGa=50 были изготовлены эпитаксиальные слои GaSb с удельным электрическим сопротивлением 400 Ом·см. Показано, что кристаллическое качество таких слоев, которое оценивалось несколькими методами, оставалось соизмеримым с качеством подложек (n-GaSb) используемых для роста преднамеренно не легированных слоев GaSb. Ключевые слова: газофазная эпитаксия, подложка, высокоомный антимонид галлия, кристаллическое качество.
- P.S. Dutta, H.L. Bhat, V. Kumar. J. Appl. Phys., 81, 5821 (1997)
- А.Н. Баранов, Т.И. Воронина, Т.С. Лагунова, И.Н. Тимченко, З.И. Чугуева, В.В. Шерстнев, Ю.П. Яковлев. ФТП, 23 (5), 780 (1989)
- P.S. Dutta, V. Prasad, H.L. Bhat. J. Appl. Phys., 80 (5), 2847 (1996)
- A. Bignazzi, E. Grilli, M. Guzzi, M. Radice, A. Bosacchi, S. Franchi, R. Magnanini. J. Cryst. Growth, 169, 450 (1996)
- P.S. Dutta, A.G. Ostrogorsky. J. Cryst. Growth, 197, 749 (1999)
- A.S. Vlasov, E.P. Rakova, V.P. Khvostikov, S.V. Sorokina, V.S. Kalinovsky, M.Z. Shvarts, V.M. Andreev. Sol. Energy Mater. Sol. Cells, 94, 1113 (2010)
- M. Hakala, M.J. Puska, R.M. Nieminen. J. Appl. Phys., 91, 4988 (2002)
- C. Raisin, A. Rocher, G. Landa, R. Carles, L. Lassabatere. Appl. Surf. Sci., 50, 434 (1991)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.