Вышедшие номера
Измерение подвижности носителей заряда в арсениде галлия с помощью ближнеполевого сверхвысокочастотного микроскопа методом сверхвысокочастотного магнитосопротивления
Переводная версия: 10.1134/S1063782618130195
Усанов Д.А.1, Постельга А.Э.1, Калямин А.А.1, Шаров И.В.1
1Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского, Саратов, Россия
Email: alexey-gtp@mail.ru
Поступила в редакцию: 16 апреля 2018 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 1969 г.

Показана возможность бесконтактного неразрушающего локального измерения сверхвысокочастотной подвижности носителей заряда в арсениде галлия при помощи ближнеполевого сканирующего сверхвысокочастотного микроскопа с использованием эффекта сверхвысокочастотного магнитосопротивления. Отмечается необходимость учета при обработке результатов измерений влияния эффекта смещения сверхвысокочастотного поля.
  1. W. Chaisantikulwat, M. Mouis, G. Ghibaudo, C. Gallon, C. Fenouillet-Beranger, D.K. Maude, T. Skotnicki, S. Cristoloveanu. Solid-State Electron., 50 (4), 637 (2006)
  2. B. Molnar, T.A. Kenedy. J. Electrochem. Soc. Solid-State Sci. Technol., 125 (8), 1318 (1978)
  3. В.С. Банников, Ю.Г. Качуровский, И.В. Петренко. Электронная промышленность, 9, 48 (1982)
  4. С.М. Безручко, В.Н. Подшивалов, А.И. Фисун. Электронная промышленность, 3, 66 (1986)
  5. D. Usanov, A. Skripal, A. Abramov, A. Bogolubov, V. Skvortsov, M. Merdanov. Proc. 37rd Eur. Microwave Conf. (Munich, Germany, 2010) p. 198
  6. D. Usanov, A. Skripal, D. Ponomarev, E. Latysheva, S. Nikitov. Proc. 20th Int. Conf. on Microwaves, Radar, and Wireless Communications MIKON-2014 (Gdansk, Poland, 2014) v. 1, p. 62
  7. Д.А. Усанов. Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения (Саратов, Изд-во Сарат. ун-та, 2010) с. 100
  8. P. Gregory, J.F. Blackburn, K. Lees, R.N. Clarke, T.E. Hodgetts, S.M. Hanham, N. Klein. Ultramicroscopy, 161, 137 (2016)
  9. Д.А. Усанов, С.С. Горбатов. Приборы и техника эксперимента, 2, 100 (2006)
  10. M. Levinshtein, S. Rumyantsev, M. Shur. Handbook Series on Semiconductor Parameters (Singapore--New Jersey--London--Hong Kong, World Scientific Publishing Co. Pte. Ltd, 1996) v. 1, p. 84
  11. L.G. Parratt. Phys. Rev., 95, 359 (1954)
  12. H.E.M. Barlow, R. Koike. Proc. IEEE, 110 (12), 2177 (1963)
  13. Л.Н. Баранов, В.Б. Гаманюк, Д.А. Усанов. РЭ, 18 (11), 73 (1973)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.