"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Тонкие пленки селенида меди(I): состав, морфология, структура, оптические свойства
Переводная версия: 10.1134/S1063782618100111
Маскаева Л.Н.1,2, Федорова Е.А.1, Марков В.Ф.1,2, Кузнецов М.В.3, Липина О.А.3, Поздин А.В.1
1Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина, Екатеринбург, Россия
2Уральский институт государственной противопожарной службы МЧС России, Екатеринбург, Россия
3Институт химии твердого тела Уральского oтделения Российской академии наук, Екатеринбург, Россия
Email: mln@ural.ru
Поступила в редакцию: 22 января 2018 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2018 г.

Представлены систематизированные результаты исследования состава, морфологии, структуры, оптических свойств и проводимости гидрохимически осажденных пленок селенида меди(I) Cu1.8Se толщиной 390-400 нм c привлечением растровой электронной микроскопии, элементного энергодисперсионного анализа, рентгеновской дифракции, рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Методом термоэдс установлен дырочный тип проводимости слоев. Оптическая ширина запрещенной зоны пленок, определенная по результатам изучения оптических спектров поглощения и диффузного отражения, при 298 K составила 2.5 и 1.84 эВ в областях прямых и непрямых оптических переходов соответственно.
  1. M. Doriani, H.J. Dehdashti, M.H. Sheikhi. J. Sol. Energ. Eng., 137, 178 (2016)
  2. M. Mazzer, S. Rampino, E. Gombia, M. Bronzoni, F. Bissoli, F. Pattini. Energies, 9, 207 (2016)
  3. S. Oueslati, G. Brammertz, S. Oueslati. Thin Sol. Films, 582, 224 (2015)
  4. R. Kondrotas, R. Juskenas, R. Kondrotas. Sol. Energy Mater. Sol. Cells, 132, 21 (2015)
  5. S. Lei, A. Sobhani, F. Wen, A. George, Q. Wang, Y. Huang, P. Dong, B. Li, S. Najmaei, J. Bellah, G. Gupta, A.D. Mohite, L. Ge, J. Lou, N.J. Halas, R. Vajtai, P. Ajayan. Adv. Mater., 26, 7666 (2014)
  6. G. Juska, V. Gulbinas, A. Jagminas. Lithuan. J. Phys., 50, 233 (2010)
  7. V.S. Gurin, A.A. Alexeenko, S.A. Zolotovskaya, K.V. Yumashev. Mater. Sci. Eng. C, 26, 952 (2006)
  8. C. Levy-Clement, M. Neumann-Spallart, S.K. Haram, K.S.V. Santhanam. Thin Sol. Films, 302, 12 (1997)
  9. V.M. Bhuse, P.P. Hankare, K.M. Garadkar, A.S. Khomane. Mater. Chem. Phys., 80, 82 (2003)
  10. L.V. Yan-Hong, Chen Ji-Kun, Dobelli Max, Li Yu-Long, Shi Xun, Chen Li-Dong. J. Inorg. Mater., 30, 1115 (2015)
  11. S.Y. Zhang, C. Fang, Y. Tian, K. Zhu, B. Jin, Y. Shen, J. Yang. Cryst. Growth Des., 6, 2809 (2006)
  12. H.M. Pathan, C.D. Lokhande, D.P. Amalnerkar, T. Seth. Appl. Surf. Sci., 211, 48 (2003)
  13. H. Liu, X. Shi, F. Xu, L. Zhang, W. Zhang, L. Chen, Q. Li, C. Uher, T. Day, G.J. Snyder. Nature Mater., 11, 422 (2012)
  14. А.А. Иванов, А.И. Сорокин, В.П. Панченко, И.В. Тарасова, Н.Ю. Табачкова, В.Т. Бублик, Р.Х. Акчурин. ФТП, 51, 904 (2017)
  15. Z. Zainal, S. Nagalingam, T.C. Loo. Mater. Lett., 59, 1391 (2005)
  16. M. Dhanam, P.K. Manoj, R.R. Prabhu. J. Cryst. Growth, 280, 425 (2005)
  17. M. Gili, M. Petrovi, J. Cirkovi, N. Paunovi, S. Savi-Sevi, Z. Nikitovi, M. Romcevic, I. Yahia, N. Romcevic. Process. Appl. Ceram., 2, 127 (2017)
  18. S.K. Haram, K.S.V. Santhanam. Thin Sol. Films, 238, 21 (1994)
  19. T.C. Liu, Y. Hu, W.B. Chang. Mater. Sci. Eng. B, 180, 33 (2014)
  20. F. Lin, G.Q. Bian, Z.X. Lei. Solid State Sci., 11, 972 (2009)
  21. V.M. Garcia. Superficies y Vacio, 9, 213 (1999)
  22. I.A. Ezenwa, N.A. Okereke, L.N. Okoli. Int. Res. J. Eng. Sci., 2, 82 (2013)
  23. C.E. Hamilton, D.J. Flood, A.R. Barron. Phys. Chem. Chem. Phys., 15, 3930 (2013)
  24. Soundararajan Thirumavalavan, Kolandavel Mani, Suresh Sagadevan. Mater Res., 18, 1000 (2015)
  25. А.С. Катышева, В.Ф. Марков, Л.Н. Маскаева. ЖНХ, 58, 940 (2013)
  26. Н.А. Третьякова, В.Ф. Марков, Л.Н. Маскаева, М.П. Миронов, В.Ф. Дьяков. Изв. вузов. Химия и хим. технология, 51, 37 (2008)
  27. V.F. Markov, L.N. Maskaeva. J. Anal. Chem., 56, 754 (2001)
  28. Ю.Ю. Лурье. Справочник по аналитической химии (М., Химия, 1989)
  29. Р.К. Кварацхелия. Электрохимия гидроксиламина (Тбилиси, Мецниереба, 1981)
  30. М.В. Кузнецов. Современные методы исследования поверхности твердых тел: фотоэлектронная спектроскопия и дифракция, СТМ-микроскопия (Екатеринбург, УрО РАН, 2010)
  31. А.В. Любченко. Физические основы полупроводниковой инфракрасной фотоэлектроники (Киев, Наук. думка, 1984)
  32. Н.Х. Абрикосов, В.Ф. Банкина, Л.В. Порецкая, Е.В. Скуднова, С.Н. Чижевская. Полупроводниковые халькогениды и сплавы на их основе (М., Наука, 1975)
  33. B.V. Crist. Handbook of monochromatic XPS spectra: the elements and native oxides (Ames, 1999)
  34. X. Liu, G. Liu, L. Wang, Y. Li, Y. Ma, J. Ma. J. Power Sources, 312, 199 (2016)
  35. A.B.M.O. Islam, A.H. Bhuiyan. J. Mater. Sci., 16, 263 (2005)
  36. A. Zhang, Q. Ma, Z. Wang, M. Lu, P. Yang, G. Zhou. Mater. Chem. Phys., 124, 916 (2010)
  37. H. Kou, Y. Jiang, J. Li, S. Yu, C. Wang. J. Mater. Chem., 22, 1950 (2012)
  38. Y. Liu, Q. Dong, H. Wei, Y. Ning, H. Sun, W. Tian, H. Zhang, B. Yang. J. Phys. Chem. C, 115, 9909 (2011)
  39. K.C. Sanal, L.S. Vikas, M.K. Jayaraj. Appl. Surf. Sci., 297, 153 (2014)
  40. S.C. Riha, D.C. Johnson, A.L. Prieto. J. Am. Chem. Soc., 133, 1383 (2011)
  41. A.S. Khomane. Arch. Appl. Sci. Res., 4, 1857 (2012)
  42. A. Moysiadou, R. Koutsikou, M. Bouroushian. Mater. Lett., 139, 112 (2015)
  43. A. Cho, S. Ahn, J.H. Yun, J. Gwak, S.K. Ahn, K. Shin, J. Yoo, H. Song, K. Yoon. Thin Sol. Films, 546, 299 (2013)
  44. M. Kristl, J. Kristl. Chalcogenide Lett., 11, 59 (2014)
  45. Al-Mamun, S.H. Firoz, A.B.M.O. Islam. Indian J. Phys., 78, 377 (2004)
  46. Y.Z. Li, X.D. Gao, C. Yang, F.Q. Huang. J. Alloys Comp., 505, 623 (2010)
  47. R.H. Bari, V. Ganesan, S. Potadar, L.A. Patil. Bull. Mater. Sci., 32, 37 (2009)
  48. R.S. Mane, S.P. Kajve, C.D. Lokhande, S.-H. Han. Vacuum, 80, 631 (2006)
  49. S.B. Ambade, R.S. Mane, S.S. Kale, S.H. Sonawane, A.V. Shaikh, S.-H. Han. Appl. Surf. Sci., 253, 2123 (2006)
  50. С.А. Золотовская, Н.Н. Поснов, П.В. Прокошин, К.В. Юмашев, В.С. Гурин, А.А. Алексеенко. ФТП, 38, 846 (2004)
  51. V.S. Gurin, A.A. Alexeenko, E.A. Tyavlovskaya, K.N. Kasparov. Thin Sol. Films, 516, 1464 (2008).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.