Электрические свойства гетероструктур p-NiO/n-Si на основе наноструктурированного кремния
Пархоменко Г.П.1, Солован М.Н.1, Марьянчук П.Д.1
1Черновицкий национальный университет им. Юрия Федьковича, Черновцы, Украина
Email: h.parkhomenko@chnu.edu.ua
Поступила в редакцию: 11 апреля 2017 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2018 г.
Методом химического травления сформированы кремниевые нанопроволоки на подложках n-Si. Изготовлены гетероструктуры p-NiO/n-Si методом реактивного магнетронного напыления. Построена энергетическая диаграмма исследуемых анизотипных гетероструктур p-NiO/n-Si в соответствии с моделью Андерсона. Измерены и проанализированы вольт-амперные и вольт-фарадные характеристики. Установлены основные механизмы токопереноса через гетеропереход p-NiO/n-Si при прямых и обратных смещениях.
- B. Hoffmann, J. Jiruse, J. Dluhovs, M. Latzel, M.Y. Bashouti, S.M. Schmitt, S. Christiansen, V. Sivakov. Wet-Chemically Etched Silicon Nanowire Solar Cells: Fabrication and Advanced Characterization. INTECH Open Access Publisher (2012)
- V. Schmidt, J.V. Wittemann, S. Senz, U. Gosele. Adv. Mater., 21 (25--26), 2681 (2009)
- C.K. Chan, H. Peng, G. Liu, K. McIlwrath, X.F. Zhang, R.A. Huggins, Y. Cui. Nature Nanotechnol., 3 (1), 31 (2008)
- A.I. Boukai, Y. Bunimovich, J. Tahir-Kheli, J.K. Yu, W.A. Goddard Iii, J.R. Heath. Nature, 451 (7175), 168 (2008)
- R. He, P. Yang. Nature Nanotechnol., 1 (1), 42 (2006)
- X.T. Zhou, J.Q. Hu, C.P. Li, D.D.D. Ma, C.S. Lee, S.T. Lee. Chem. Phys. Lett., 369 (1), 220 (2003)
- S.W. Chung, J.Y. Yu, J.R. Heath. Appl. Phys. Lett., 76 (15), 2068 (2000)
- J. Westwater, D.P. Gosain, S. Tomiya, S. Usui, H. Ruda. J. Vac. Sci. Technol. B, 15 (3), 554 (1997)
- Y.F. Zhang, Y.H. Tang, N. Wang, D.P. Yu, C.S. Lee, I. Bello, S.T. Lee. Appl. Phys. Lett., 72 (15), 1835 (1998)
- J.Y. Yu, S.W. Chung, J.R. Heath. J. Phys. Chem. B, 104 (50), 11864 (2000)
- C. Chartier, S. Bastide, C. Levy-Clement. Electrochim. Acta, 53 (17), 5509 (2008)
- Z. Huang, N. Geyer, P. Werner, J. De Boor, U. Gosele. Adv. Mater., 23 (2), 285 (2011).
- J.A. Dirksen, K. Duval, T.A. Ring. Sensors Actuators B: Chemical, 80 (2), 106 (2001)
- H.P. Parkhomenko, M.N. Solovan, A.I. Mostovyi, K.S. Ulyanytsky, P.D. Maryanchuk. Semiconductors, 51 (3), 344 (2017)
- H. Sato, T. Minami, S. Takata, T. Yamada. Thin Sol. Films, 236(1-2), 27 (1993)
- P.S. Patil, L.D. Kadam. Appl. Surf. Sci., 199 (1), 211 (2002)
- R.C. Korovsec, P. Bukovec. Acta Chim. Slovaca, 53, 136 (2006)
- J. Tamaki, C. Naruo, Y. Yamamoto, M. Matsuoka. Sensors Actuators B: Chemical, 83 (1), 190 (2002)
- D.Y. Jiang, J.M. Qin, X. Wang, S. Gao, Q.C. Liang, J.X. Zhao. Vacuum, 86 (8), 1083 (2012)
- А. Фаренбрух, Р. Бьюб. Солнечные элементы: теория и эксперимент (М., Энергоатомиздат, 1987) [Пер. с англ.: A.L. Fahrenbruch, R.H. Bube. Fundamentals of solar cells. Photovoltaic solar energy conversion (N.Y., 1983)]
- Б.Л. Шарма, Р.К. Пурохит. Полупроводниковые гетеропереходы (М., Сов. радио, 1979) [Пер. с англ.: B.L. Sharma, R.K. Purohit. Semiconductor heterojunctions (Pergamon Press, 1974)]
- Физико-химические свойства окислов, под. ред. Г.В. Самсонова (М., Металлургия, 1978)
- S.C. Choi, K. Koumoto, H. Yanagida. J. Mater. Sci., 21 (6), 1947 (1986)
- T.M. Ramond, G.E. Davico, F. Hellberg, F. Svedberg, P. Salen, P. Soderqvist, W.C. Lineberger. J. Molecular Spectroscopy, 216 (1), 1 (2002)
- M.N. Solovan, V.V. Brus, P.D. Maryanchuk. Semiconductors, 48 (2), 219 (2014)
- M.N. Solovan, V.V. Brus, P.D. Maryanchuk. Semiconductors, 48 (7), 899 (2014)
- Л.С. Берман. Емкостные методы исследования полупроводниковых приборов (Л., Наука, 1972)
- J.P. Donnelly, A.G. Milnes. IEEE Trans. Electron Dev., 14 (2), 63 (1967)
- V.V. Brus. Semicond. Sci. Technol., 28 (2), 025013 (2013)
- M.M. Solovan, V.V. Brus, P.D. Maryanchuk. Semiconductors, 47 (9), 1174 (2013)
- S.M. Sze, K. Kwok. Physics of Semiconductor Devices, 3rd edn (New Jersey, Wiley, 2007).
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.