"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Морфология межслоевой поверхности и микро-рамановские спектры в слоистых пленках топологических изоляторов на основе теллурида висмута
Лукьянова Л.Н.1, Бибик А.Ю.2, Асеев В.А.2, Усов О.А.1, Макаренко И.В.1, Петров В.Н.1, Никоноров Н.В.2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Национальный исследовательский университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
Email: lidia.lukyanova@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 12 декабря 2016 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2017 г.

В тонких слоистых пленках n-Bi2Te3 и твердых растворов на основе Bi2Te3 исследованы резонансные микро-рамановские спектры и морфология межслоевой ван-дер-ваальсовой поверхности. Установлено влияние состава, толщины, морфологии поверхности и метода получения пленок на относительную интенсивность рамановских фононов, чувствительных к поверхностным топологическим состояниям фермионов Дирака. DOI: 10.21883/FTP.2017.06.44553.13
  1. K.M.F. Shahil, M.Z. Hossain, D. Teweldebrhan, A.A. Balandin. Appl. Phys. Let., 95, 153103 (2010)
  2. Yu.D. Glinka, S. Babakiray, T.A. Johnson, D. Lederman. J. Phys.: Condens. Matter, 27, 052203 (2015)
  3. Л.Н. Лукьянова, А.Ю. Бибик, В.А. Асеев, О.А. Усов, И.В. Макаренко, В.Н. Петров, Н.В. Никоноров, В.А. Кутасов. ФТТ, 58, 1390 (2016)
  4. K. Saha, K. Legare, I. Garate. Phys. Rev. Lett., 115, 176405 (2015)
  5. M.Z. Hasan, C.L. Kane. Rev. Mod. Phys., 82, 3045 (2010)
  6. D.-X. Qu, Y.S. Hor, J. Xiong, R.J. Cava, N.P. Ong. Science, 329, 821 (2010)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.