"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Микродеформация кристаллической решетки твердых растворов PbTe1-xBrx
Шаров М.К.1, Кабанова К.А.1
1Воронежский государственный университет, Воронеж, Россия
Поступила в редакцию: 13 марта 2014 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2014 г.

Анализом физического уширения рентгеновских рефлексов определена микродеформация кристаллической решетки твердых растворов PbTe1-xBrx в зависимости от содержания брома. Обнаружено, что она увеличивается при введении брома от 0.188% (у нелегированного PbTe) до 0.283% у PbTe1-xBrx при x = 0.02. При дальнейшем увеличении содержания брома микродеформация остается постоянной.
  1. И.Б. Захарова, Т.И. Зубкова, С.А. Немов, О.В. Рабизо, В.Н. Выдрик. ФТП, 28 (10), 1802 (1994)
  2. H. Zogg, C. Maissen. J. Masek, S. Blunier, A. Fach. Opt. Eng., 33 (5), 1440 (1994)
  3. М.К. Шаров. Неорг. матер., 45, (8), 1021 (2009)
  4. М.К. Шаров, О.Б. Яценко, А.М. Самойлов. Поверхность, рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 7, 77 (2010)
  5. М.К. Шаров, О.Б. Яценко, Я.А. Угай. Неорг. матер., 42 (7), 800 (2006)
  6. Я.С. Уманский, Ю.А. Скаков, А.Н. Иванов, Л.Н. Расторгуев. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия (М., Металлургия, 1982)
  7. Я.С. Уманский. Рентгенография металлов и полупроводников. (М., Металлургия, 1969)
  8. J. Puerta, P. Martin. Appl. Optic., 20 (22), 3923 (1981)
  9. P. Dasgupta. Fisika A (Croatia), 2, 61 (2000)
  10. H.M. Rietveld. J. Appl. Crystallogr., 2 (2), 65 (1969)
  11. М.К. Шаров. Перспективные матер., 3, 30 (2009)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.