"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Сканирующие туннельные микроскопия и спектроскопия аморфного углерода О б з о р
Иванов-Омский В.И.1, Лодыгин А.Б.1, Ястребов С.Г.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 11 мая 2000 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2000 г.

Важнейшими методами исследования поверхности аморфного алмазоподобного углерода являются сканирующие туннельные микроскопия и спектроскопия. В настоящем обзоре рассмотрены работы, посвященные исследованию с помощью туннельного микроскопа топографии и электронных свойств поверхности пленок аморфного алмазоподобного углерода, а также сопутствующие исследования, такие как зондовые исследования полевой эмиссии из аморфного углерода и туннельная микроскопия металл-углеродных нанокомпозитов.
  1. J.C. Angus, C.C. Hayman. Science, 241, 913 (1998)
  2. A. Hart, B.S. Satyanarayana, W.I. Milne, J. Robertson. Appl. Phys. Lett., 74 (11), 1594 (1999)
  3. M.-L. Theye, V. Paret, A. Sadki. Condens. Matter News, 7 (1), 4 (1998)
  4. J. Robertson, E.P. O'Reilly. Phys. Rev. B, 35, 2946 (1987)
  5. V.I. Ivanov-Omskii, A.B. Lodygin, A.A. Sitnikova, A.A. Suvorova, S.G. Yastrebov. J. Chemical Vapor Deposition, 5, 198 (1997)
  6. B. Marchon, M. Salmeron, W. Siekhaus. Phys. Rev. B, 39 (17), 12 907 (1989)
  7. J.A. Van Vechten, D.A. Keszler. Phys. Rev. B, 36, 4570 (1987)
  8. A. Selloni, P. Carnevali, E. Tosatti, C.D. Chen. Phys. Rev. B, 31, 2602 (1985)
  9. R.E. Stallcup, A.F. Aviles, J.M. Perez. Appl. Phys. Lett., 66 (18), 233 (1995)
  10. N.H. Cho, D.K. Veirs, J.W. Ager III, M.D. Rubin, C.B. Hopper, D.B. Bogy. J. Appl. Phys., 71 (5), 2243 (1992)
  11. M.S. Dresselhaus, G. Dresselhaus, K. Sugihara, I.L. Spain, H.A. Goldberg. In: Springer Series in Materials Science, ed. by M. Cardona (Springer Verlag, Berlin, 1988) v. 5, chapter 3
  12. J. Besold, R. Thielsch, N. Matz, C. Frenzel, R. Born, A. Moebius. Thin Sol. Films, 293 (1--2), 96 (1997)
  13. I. Rusman, L. Klibanov, E. Ben-Jacob, N. Croitoru. Applications of Diamond Films: Third International Conference, ed. by A. Feldman (1995) p. 797
  14. I. Rusman, L. Klibanov, L. Burstein, Yu. Rosenberg, V. Weinstein, E. Ben-Jacob, N. Croitoru, A. Seidman. Thin Sol. Films, 287 (1--2), 36 (1996)
  15. H. Park, Y.-K. Hong, J.S. Kim, C. Park, J.K. Kim. Appl. Phys. Lett., 69 (6), 779 (1996)
  16. J.M. Yanez-Limon, F. Ruiz, J. Gonzalez-Hernandez, C. Vazquez-Lopez, E. Lopez-Cruz. J. Appl. Phys., 76, 3443 (1994)
  17. P. Prioli, S.I. Zanette, A.O. Caride, D.F. Franceschini, F.L. Freire, Jr. J. Vac. Sci. Technol. A, 14 (4), 2351 (1996)
  18. В.И. Иванов-Омский, С.Г. Ястребов, А.О. Голубок, С.А. Масалов, В.В. Розанов. Письма ЖТФ, 24 (20), 28 (1998)
  19. S. Shelz, T. Richmond, P. Kania, P. Oelhafen, H.-J. Guntherodt. Surf. Sci., 359 (1--3), 227 (1996)
  20. V.L. Arbuzov, V.B. Vykhodets, I.Sh. Trakhtenberg, A.E. Davletshin, O.M. Bakunin, S.A. Plotnikov, J.H. Lee, S.J. Kim, B.S. Chung. J. de Psusique IV, 6 (5), 185 (1996)
  21. A.A. Gorbunov, S.M. Pimenov, A.A. Smolin, H.-J. Schiebe, D. Drescher. Phys. St. Sol. (a), 145, 393 (1994)
  22. T.W. Mercer, N.J. DiNardo, J.P. Sullivan, J.P. Friedmann, M.P. Siegal, L.J. Martinez-Miranda. Diamond for Electronic Applications, ed. by D.L. Dreifus (1995) p. 175
  23. П.Н. Лускинович, В.Д. Фролов, А.Е. Шавыкин, В.Д. Хаврюченко, Е.Ф. Шека. Письма ЖЭТФ, 62 (11), 868 (1995)
  24. С.Ю. Васильев, А.В. Денисов. ЖТФ, 70 (1), 100 (2000)
  25. Y. Goldstein, L.F. Fonseca, F.R. Zypman. Phys. Rev. B, 49 (3), 1981 (1994)
  26. C. Arena, B. Kleinsorge, J. Robertson, W.I. Milne, M.E. Welland. J. Appl. Phys., 85 (3), 1609 (1999)
  27. M. Chhowalla, J. Robertson, C.W. Chen, S.R.P. Silva, C.A. Davis, G.A.J. Amaratunga, W.I. Milne. J. Appl. Phys., 81, 139 (1997)
  28. Y. Lifshitz, S.R. Kasi, J.W. Rabalais. Phys. Rev. Lett., 62, 1290 (1989)
  29. L.K. Cheah, X. Shi, E. Liu, B.K. Tay. J. Appl. Phys., 85 (9), 6816 (1999)
  30. В.И. Иванов-Омский, А.Б. Лодыгин, С.Г. Ястребов. Письма ЖТФ, 25 (24), 66 (1999)
  31. Д.В. Лихарев, К.К. Аверин. ЖЭТФ, 90, 733 (1986)
  32. W.N. Wang, N.A. Fox, J.W. Steeds, S.R. Lin, J.E. Butler. J. Appl. Phys., 80 (12), 6809 (1996)
  33. E.I. Givargizov, V.V. Zhirnov, A.N. Stepanova. Appl. Surf. Sci., 87, 24 (1995)
  34. J. Robertson. Flat Panel Display Meterials III, ed. by R.T. Fulks (Mater. Res. Soc., USA, 1997) p. 217
  35. F.Y. Chuang, C.Y. Sun, T.T. Chen, I.N. Lin. Appl. Phys. Lett., 69 (23), 3504 (1996)
  36. A. Hart, B.S. Satyanarayana, W.I. Milne, J. Robertson. Appl. Phys. Lett., 74 (11), 1594 (1999)
  37. F.Y. Chuang, C.Y. Sun, I.N. Lin. Appl. Phys. Lett., 68, 1666 (1996)
  38. O.M. Kuttel, O. Groning, L. Nilsson, L. Diederich, L. Schlapbach. Proc. 1 st Int. Specialist Meeting on Amorphous Carbon (SMAC'97), ed. by S.R.P. Silva (World Scientific, Singapore, 1998) p. 338
  39. O. Groning, O.M. Kuttel, P. Groning, L. Schlapbach. Appl. Surf. Sci., 111, 135 (1996)
  40. V.F. Dorfman. Thin Sol. Films, 212, 267 (1992)
  41. V.F. Dorfman, A. Bozhko, B.N. Pypkin, R.T. Borra, A.R. Strivasta, H. Zhang, T.A. Skotheim, I. Khan, D. Rodichev, G. Kirpilenko. Thin Sol. Films, 212, 274 (1992)
  42. B. Dorfman, M. Abraizov, F.H. Pollak, R. Eby, Z.-Y. Rong, M. Strongin, X.-Q. Yang. Applications of Diamond Films Third Int. Conf., ed. by A. Feldman (1995) p. 769
  43. Z.Y. Rong, M. Abraizov, B. Dorfman, M. Strongin, X.-Q. Yang, D. Yan, F.H. Pollak. Appl. Phys. Lett., 65 (11), 1379 (1994)
  44. K.I. Shiffmann, M. Fryda, G. Goerigk, R. Lauer, P. Hinze. Ultramicroscopy, 66 (3--4), 183 (1996)
  45. А.О. Голубок, О.М. Горбенко, Т.К. Звонарева, С.А. Масалов, В.В. Розанов, С.Г. Ястребов, В.И. Иванов-Омский. ФТП, 34 (2), 223 (2000)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.