"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Методика исследований субмикровыделений в поликристаллических материалах методом внутреннего трения
Андреев Ю.Н.1, Бестаев М.В.2, Димитров Д.Ц.2, Мошников В.А.2, Таиров Ю.М.2, Ярославцев Н.П.1
1Воронежский государственный технический университет, Воронеж, Россия
2Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 18 ноября 1996 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1997 г.

На основе метода внутреннего трения предложены методики исследования кинетики выделения примесей на поверхности зерен в поликристаллических образцах. Возможности методики апробированы на поликристаллических газочувствительных слоях диоксида олова, легированных теллуром.
  1. Поликристаллические полупровдники, под ред. Г. Харбеке (М., Мир, 1989). [Пер. с англ.: Polycrystalline Semiconduction. Phisical Prorerties and Application. Proc. Int. School of Materials Sci. and Technol. at the Eltore Majorana Centre. Erice, Italy, July 1--15. 1984, ed. by G. Harbeke (Springer Verlag, Berlin--Heidelberg--N.Y.--Tokyo,1985)]
  2. H.J. Grost, F. Spaepen. J. Physique, 43, 73 (1982)
  3. V. Vitek, A.P. Sutton, D.A. Smith, R.C. Pond. Grain Boundary. Structure and Kinetics (A.S.M., Metal Park, 1980)
  4. R.W. Balutti, P.D. Bristowe, C.P. Sun. J. Amer. Soc., 64, 29 (1981)
  5. V. Pontikis. J. Physique, 43, 65 (1982)
  6. C.L. Briant, R.D. Mesmer. J. Physique, 43, 255 (1982)
  7. R.S. Morrison. Sensor and Actuators, 12, 425 (1987)
  8. L. Horer. Polprgzewodnikowe materialy ceramiczhe z aktywnymi granicami zranicami ziaru (Warszawa, PWN, 1990)
  9. Л. Фельдман, Д. Майер. Основы анализа поверхности и тонких пленок (М., Мир, 1989). [Пер. с англ.: L.C. Feldman, J.W. Mayer. Fundamentals of surface and thin film analysis (North Holland, N.Y.--Amsterdam--London, 1986)]
  10. M.V. Bestaev, D.Tr. Dimitrov, V.A. Moshnikov, Yu.M. Tairov. SnO-=SUB=-2-=/SUB=- Based Gas Sensitive Sensor. Abstracts E-MRS 1996 Spring Meeting. Strasburg, France, June 4--7, 1996, B-1
  11. R. Assenov, V.A. Moshnikov, D.A. Yaskov. Cryst. Res. Technol., 21, 1553 (1986)
  12. Н.И. Долотов, А.Б. Зильберман, Ю.А. Ильин, А.В. Мохин, В.А. Мошников, Д.А. Яськов. Неорг. матер., 30, N 1, 83 (1994)
  13. В.И. Митрохин, Н.П. Ярославцев, С.И. Рембеза, Г.С. Песоцкий, Н.В. Измайлов. А.с. 105/42 СССР G01N11/16 (1985)
  14. Н.В. Измайлов, Ю.Л. Ильин, В.А. Мошников, В.В. Томаев, Н.П. Ярославцев, Д.А. Яськов. ЖФХ, 12, 1370 (1988)
  15. Б.М. Даринский, Н.П. Ярославцев. Высокочистые вещества, N 3, 80 (1990)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.