Борковская О.Ю., Дмитрук Н.Л., Литовченко В.Г., Мищук О.Н.
Выставление онлайн: 20 января 1989 г.
Проведен анализ зависимости величины эффекта радиационно-стимулированного увеличения времени жизни неосновных носителей тока tau в полупроводнике при малых дозах облучения Phi от концентрации исходных и введенных облучением центров рекомбинации и температуры измерения с учетом пространственной локализации эффекта вблизи границ раздела. Для этого зависимость tau от Phi представленa в виде (1)/(tau)=(1)/(tau0)+ktauPhi-A(Phi,tau0), где ktau - коэффициент радиационной деградации времени жизни, определяемый для области больших доз, а A - величина, описывающая эффект упорядочения. Эксперимент, проведенный на структурах Au-GaAs, облучаемых электронами с энергией ~2 МэВ или gamma-квантами 60Co, подтверждает модель радиационно-стимулированного геттерирования исходных и введенных облучением центров рекомбинации границами раздела.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.