"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Определение состава многокомпонентных халькогенидных полупроводников методом рентгенофлюоресцентного анализа
Бордовский Г.А.1, Марченко А.В.1, Николаева А.В.1, Серегин П.П.1, Теруков Е.И.2,3
1Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 20 марта 2013 г.
Выставление онлайн: 20 января 2014 г.

Количественный состав стеклообразных сплавов Asx(GeySe1-y)1-x определялся путем измерения рентгенофлюоресцентного спектра эталонного сплава Ge0.2As0.4Se0.4, из рентгенофлюоресцентных спектров рассчитывались атомные доли мышьяка, германия и селена, а затем строились зависимости xRFA=f(x) и yRGA= f(y), которые позволяют определить состав стекол с точностью ±0.0005 для x и y. Эта методика оказывается эффективной для определения концентрации примеси олова в кристаллических твердых растворах Pb1-xSnxSe. Однако для стеклообразных сплавов типа Tex(AsySe1-y)1-x оказывается невозможным определить содержание теллура в связи с тем, что компоненты сплавов имеют существенно различные рентгеноспектральные характеристики.
  1. Г.А. Бордовский, А.В. Марченко, П.П. Серегин, Н.Н. Смирнова, Е.И. Теруков. Письма ЖТФ, 35, 15 (2009)
  2. Г.А. Бордовский, А.В. Марченко, П.П. Серегин, Е.И. Теруков. ФТП, 44, 26 (2010)
  3. Г.А. Бордовский, П.В. Гладких, И.В. Еремин, А.В. Марченко, П.П. Серегин, Н.Н. Смирнова, Е.И. Теруков. Письма ЖТФ, 37, 15 (2011)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.