Электронная и геометрическая структуры ряда дефектов замещения в кремнии рассчитаны самосогласованным дискретным вариационным X_alpha-методом в кластерном приближении Из анализа электронной структуры, зарядового состояния и интегралов перекрывания даны оценки устойчивости примеси в узле решетки. Из расчетов следует, что в положении замещения могут присутствовать следующие примеси: X=Be, B, C, N, O, F, Al, Р, S, Сl.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.