Вышедшие номера
Некоторые характеристики индуцированных радиационно-термическим воздействием пар As iZnGa в p-GaAs(Zn)
Глинчук К.Д.1, Гурошев В.И.1, Прохорович А.В.1
1Институт физики полупроводников Национальной академии наук Украины, Киев, Украина
Поступила в редакцию: 5 апреля 1995 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1996 г.

Изучено влияние низкотемпературного (T=77 K) электронного облучения (Phi = 1· 1016 электрон/см2) и последующих отжигов (T=80-500 K) кристаллов p-GaAs(Zn) на образование и аннигиляцию пар AsiZn Ga. Показано, что эффективная генерация пар AsiZn Ga наблюдается в температурном интервале 20-225oC. Анализ кинетики образования и аннигиляции пар AsiZn Ga позволил определить коэффициент диффузии радиационно-стимулированных межузельных атомов мышьяка D [D~= 10-17 см2/с при 20oC, D~ exp(-0.45/kT) при 20-100oC], энергию активации процесса из диффузии varepsilonm=0.45 эВ, энергию связи между компонентами пар AsiZn Ga varepsilonb=0.55 эВ, а также энергию диссоциации последних varepsilond=1.0 эВ.