Исследование электрофизических свойств пленок a-C : H, перспективных для защитных покрытий электрофотографических носителей информации
Кудоярова В.Х.1, Аверьянов В.Л.1, Чернышев А.В.1, Цолов М.Б.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 16 декабря 1994 г.
Выставление онлайн: 20 августа 1995 г.
Проведено комплексное исследование состава, структуры и электрических свойств углеродных пленок (a-C : H) с точки зрения удовлетворения требованиям, предъявляемым к защитным покрытиям электрофотографических носителей информации. Пленки a-C : H были получены низкотемпературным осаждением тремя различными методами: магнетронным распылением графитовой мишени в аргоноводородной атмосфере, магнетронным распылением графитовой мишени в сочетании со стимулированным плазмой газофазным осаждением из смеси газов ( 10%CH4+90%Ar) и ВЧ-разложением смеси газов ( 10%CH4+90%Ar). Показано, что при низкотемпературном осаждении могут быть получены твердые алмазоподобные, высокоомные пленки a-C : H, удовлетворяющие требованиям, предъявляемым к защитным покрытиям электрофотографических носителей информации. Приводятся результаты исследований основных электрофотографических параметров электрофотографических носителей информации с защитным покрытием и без него. Установлено, что срок хранения на воздухе и прочностные свойства электрофотографических носителей информации с защитным покрытием из a-C : H возрастают.
- В.Х. Кудоярова, Р.А. Каваляускас, О.И. Коньков, Е.И. Теруков, И.Н. Трапезникова, И.В. Шведков. \it Тез. докл. межд. конф. "Электрография-91" (М., 1991) с. 46
- Патент ФРГ DE 3821665 AI (1989)
- В.М. Котов, Д.А. Мкртичан, В.Л. Аверьянов, А.В. Жарких, В.А. Чернышев. \it Тез. докл. межд. конф. "Электрография-91" (М., 1991) с. 40
- B. Dischler, A. Bubenzer, P. Koild. Appl. Phys. Lett., 42, 636 (1983)
- H. Tsai, D.B. Body. J. Vac. Sci. Technol. A, 5, 3287 (1987)
- И.И. Аксенов, В.Г. Падаяка, В.Е. Стрельницкий, В.Т. Толок, В.П. Зубарь, М.Ф. Семко. Сверхтвердые материалы, 1, 25 (1979)
- D.A. Anderson. Phil. Mag., 35, 17 (1977)
- S. Berg, L.P. Anderson. Thin Sol. Films, 58, 117 (1979)
- K. Enke, H. Dimigen, H. Hubsch. Appl. Phys. Lett., 36, 291 (1980)
- D.R. McKenzie, R.C. McPhedran, N. Savvides, D.J.H. Cockaune. Thin Sol. Films, 108, 247 (1983)
- Ch. Wyon, R. Gillet, L. Lombard. Thin Sol. Films, 122, 203 (1984)
- F.W. Smith. J. Appl. Phys., 55, 764 (1984)
- J. Wagner, P. Lautenschiager. J. Appl. Phys., 59, 2044 (1986)
- J.W. Zou, K. Reichelt, K. Schmidt, B. Dischler. J. Appl. Phys., 65, 3914 (1989)
- G.M. Gusinskii, I.V. Kudryavtsev, V.Kh. Kudoyarova, V.O. Naidenov, L.A. Rassadin. Semicond. Sci. Techn., 7, 881 (1992)
- K. Schmidt, K. Reichelt, B. Strizker, J. Zou. Fresenius Z. Anal. Chem., 333, 326 (1989)
- G. Foti, J.W. Mayer, E. Rimini. In: \it Ion Beam Handbook for Material Analysis, ed. by J.W. Mayer, E. Rimini (Acad. Press. Inc., N.Y., 1977) P. 1, P. 21
- B. Dischler, A. Bubenser, P. Kolid. Sol. St. Commun., 48, 105 (1983)
- S. Craig, G.L. Harding. Thin Sol. Films, 97, 345 (1982)
- R.O. Dillon, J.A. Woollam. Phys. Rev. B, 29, 3482 (1984)
- H. Shimizu, S. Nakao, H. kusakabe, M. Noda. J. Non-Cryst. Sol., 114, 196 (1989)
- J. Wagner, M. Ramsteiner, Ch. Wild, P. Koidl. Phys. Rev. B, 40, 1817 (1989)
- F. Tuinstra, J.L. Koenig. J. Chem. Phys., 53, 1126 (1970)
- J.S. Ma, H. Kawarada, T. Yonehara, J. Suzuki, Y. Yokota, A. Hiraki. J. Cryst. Growth, 99, 1206 (1990)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.