"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Зависимость характерных размеров крупномасштабных скоплений электрически активных дефектов от их положения вдоль продольной оси монокристаллического слитка InP:Fe
Юрьев В.А.1, Калинушкин В.П.1
1Институт общей физики Российской академии наук,, Москва, Россия
Поступила в редакцию: 12 июля 1994 г.
Выставление онлайн: 20 января 1995 г.

  1. В.П. Калинушкин, В.А. Юрьев, Д.И. Мурин. ФТП, 25, 798 (1990)
  2. V.P. Kalinushkin, V.A. Yuryev, D.I. Murin, M.G. Ploppa. Semicond. Sci. Technol., 7, A252 (1992)
  3. В.П. Калинушкин. Тр. ИОФАН (М.), 4, 3(1986)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.