"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Визуализация поверхности (111) кремниевых шайб p-типа в атмосферных условиях с помощью сканирующего туннельного микроскопа
Болотов Л.Н.1, Козлов В.А.1, Макаренко И.В.1, Титков А.Н.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 22 декабря 1992 г.
Выставление онлайн: 20 июля 1993 г.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.