"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Прямой метод определения плотности поверхностных состояний по токам накачки заряда
Левин М.Н.1, Литманович В.И.1, Татаринцев А.В.1, Чернышев Е.В.1
1Воронежский государственный университет им. Ленинского комсомола,, Воронеж, Россия
Выставление онлайн: 20 декабря 1992 г.

На основе прямых расчетов проведен анализ известной модели [IEEE Trans. Electron Dev., ED-31, 42 (1984)] токов накачки заряда. Показано, что предположение модели о нарушении и восстановлении квазистационарности перезарядки поверхностных состояний в точках порогового напряжения и плоских зон не подтверждается. Исключение из рассмотрения рекомбинации через поверхностные состояния в условиях слабой инверсии (при переключении из обогащения в инверсию) и обеднения (при обратном переключении) приводят к погрешности в определении плотности состояний при использовании импульсов накачки с линейными фронтами. Величина погрешности существенно зависит от формы энергетического распределения плотности поверхностных состояний и возрастает к середине зоны. Предложен вариант режима возбуждения токов накачки заряда, исключающий обнаруженную погрешность. Метод, основанный на этом режиме, позволяет только по токам накачки заряда определить энергетическое распределение плотности поверхностных состояний по всей ширине запрещенной зоны, а также сечение захвата электронов этими состояниями в верхней половине зоны и дырок --- в нижней.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.