"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Установление степени упорядочения структуры материалов на основе расчета информационно-корреляционных характеристик
Вихров С.П.1, Авачева Т.Г.1, Бодягин Н.В.1, Гришанкина Н.В.1, Авачев А.П.1
1Рязанский государственный радиотехнический университет, Рязань, Россия
Поступила в редакцию: 22 сентября 2011 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2012 г.

Описан новый метод анализа процессов самоорганизации в твердотельных материалах путем расчета корреляционно-информационных характеристик поверхности, в частности, средней взаимной информации. Предложены критерии определения степени упорядочения структуры поверхности, которые апробированы на экспериментальных полупроводниковых структурах моно-, поли- и аморфного кремния. Установлены зависимости информационных характеристик пленок неупорядоченных полупроводников от технологических режимов получения.
  1. А.А. Айвазов, Б.Г. Будагян, С.П. Вихров, А.И. Попов. Неупорядоченные полупроводники (М., Изд-во МЭИ, 1995)
  2. Н.В. Бодягин, С.П. Вихров. Прил. к журн. "Вестник РГРТУ", 4 (2009)
  3. Т.Г. Авачева, Н.В. Бодягин, С.П. Вихров и др. ФТИ, 42 (5), 513 (2008)
  4. Т.Г. Авачева, Н.В. Бодягин, С.П. Вихров, С.М. Мурсалов. Процессы самоорганизации в неупорядоченных материалах (Рязань, РГРТУ, 2007)
  5. А.П. Авачев, А.С. Арефьев, Г.П. Гололобов, Д.В. Суворов. Сканирующая зондовая микроскопия : методические указания к лабораторным работам (Рязань, РГРТУ, 2010)
  6. Т.Г. Авачева, С.П. Вихров, В.А. Быков, Н.В. Вишняков, К.В. Митрофанов, И.Г. Уточкин. Сб. тр. VI Междунар. конф. Аморфные и микрокристаллические полупроводники" (СПб., Изд-во Политехн. ун-та, 2008) с. 32

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.