Продольная фотопроводимость многослойных Ge/Si-структур с квантовыми точками Ge
Талочкин А.Б.1, Чистохин И.Б.1, Марков В.А.1
1Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
Поступила в редакцию: 26 декабря 2008 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2009 г.
Исследованы спектры продольной фотопроводимости многослойных Ge/Si-структур с квантовыми точками Ge, полученных методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Наблюдался фотоотклик в диапазоне энергий 1.1-0.3 эВ при T=78 K, связанный с оптическими переходами между дырочными уровнями квантовых точек и электронными состояниями Si. Показано, что основной вклад в латеральную фотопроводимость дают электронные состояния, локализованные в области изгиба зон Si вблизи Ge/Si границы раздела. Применение модели квантового ящика для описания дырочных уровней квантовых точек позволило понять происхождение пиков, наблюдаемых в спектрах фотопроводимости. Построена подробная энергетическая диаграмма дырочных уровней квантовых точек и оптических переходов в Ge/Si-структурах с напряженными квантовыми точками Ge. PACS: 73.21.La, 73.63.Kv, 73.50.Pz, 78.67.Hc
- K. Brunner. Rep. Progr. Phys., 65, 27 (2002)
- J.-M. Baribeau, X. Wu, N.L. Rowell, D.J. Lockwood. J. Phys.: Condens. Matter. 18, R139 (2006)
- B. Voiglender. Surf. Sci. Rep., 43, 127 (2001)
- C. Miesner, O. Rothig, K. Brunner, G. Absteriter. Appl. Phys. Lett., 76, 1027 (2000)
- J.L. Liu, W.G. Wu, A. Balandin, G.L. Jin, K.L. Wang. Appl. Phys. Lett., 74, 185 (1999)
- U. Denker, M. Stoffel, O.G. Schmidt. Appl. Phys. Lett., 82, 454 (2003)
- M.W. Dashiell, U. Denker, G. Muller, G. Costantini, C. Manzano, K. Kem, O.G. Schmidt. Appl. Phys. Lett., 80, 1279 (2002)
- M.V. Shaleev, A.V. Novikov, A.N. Yablonskiy, Y.N. Drozdov, D.N. Lobanov, Z.F. Krasilnik. Appl. Phys. Lett., 91, 021 916 (2007)
- A.I. Yakimov, A.V. Dvurechenskii, Yu.Yu. Proskuryakov, A.I. Nikiforov, O.P. Pchelyakov, S.A. Teys, A.K. Gutakovskii. Appl. Phys. Lett., 75, 1413 (1999)
- S. Tong, J.L. Liu, J. Wan, Kang L. Wang. Appl. Phys. Lett., 80, 1189 (2002)
- M.Ya. Valakh, V.M. Dzhagan, V.O. Yukhymchuk, O.V. Vakulenko, S.V. Kondratenko, A.S. Nikolenko. Semicond. Sci. Technol., 22, 326 (2007)
- S.V. Kondratenko, A.S. Nikolenko, O.V. Vakulenko, M.Ya. Valakh, V.O. Yukhymchuk, A.V. Dvurechenskii, A.I. Nikiforov. Nanotechnology, 19, 145 703 (2008)
- V.A. Markov, H.H. Cheng, C.-T. Chia, A.I. Nikiforov, V.A. Cherepanov, O.P. Pchelyakov, K.S. Zhuravlev, A.B. Talochkin, E. Mc Glynn, M.O. Henry. Thin Sol. Films, 369, 79 (2000)
- A.B. Talochkin, V.A. Markov, V.I. Mashanov. Appl. Phys. Lett., 91, 093 127 (2007)
- А.Б. Талочкин, В.А. Марков, В.И. Машанов. Письма ЖЭТФ, 86, 397 (2007)
- A.B. Talochkin, V.A. Markov. Nanotechnology, 19, 275 402 (2008)
- C.G. Van de Walle, M.R. Martin. Phys. Rev. B, 34, 5621 (1986)
- А.В. Ненашев, А.В. Двуреченский. ЖЭТФ, 48, 570 (2000)
- Y. Kikuchi, H. Suggi, K. Chintani. J. Appl. Phys., 89, 1191 (2001)
- M. Grundman, O. Stier, D. Bimberg. Phys. Rev. B, 52, 11 969 (1995)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.