Вышедшие номера
Home » Физика и техника полупроводников » Год 2026, выпуск 1 » Статья стр. 39
<<<>>>
Оптические свойства композитных пленок ITO-эпоксидная смола
Ильющенков Д.С. 1, Павлюченко А.С. 1, Марков Л.К. 1, Смирнова И.П. 1, Нащекин А.В. 1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: dmitry@mail.ioffe.ru
Выставление онлайн: 19 апреля 2026 г.
PDF версия
Исследованы оптические характеристики прозрачных и электропроводящих композитных покрытий, состоящих из наноструктурированных просветляющих пленок оксида индия и олова, полученных методом магнетронного распыления на горячую подложку, и эпоксидной смолы. Рассматривается процесс заполнения эпоксидной смолой пустот в структуре пленки, а также характер влияния степени заполнения на оптические характеристики покрытия. Показано, что на начальной стадии заполнения просветляющий эффект покрытия усиливается по сравнению с исходной пленкой, в то время как при полном заполнении спектры отражения и пропускания образцов демонстрируют интерференционный характер взаимодействия покрытия со светом. Результаты эксперимента хорошо согласуются с данными компьютерного моделирования покрытий с параметрами, полученными из снимков растровой электронной микроскопии. Разработанная модель может быть использована в дальнейшем при изготовлении многокомпонентных наноструктурированных покрытий с заданными свойствами. Ключевые слова: оксид индия и олова, ITO, наноструктурированная пленка, прозрачные проводящие оксиды, нанонити, численное моделирование.
  1. T. Chaikeeree, N. Mungkung, N. Kasayapanand, H. Nakajima, T. Lertvanithphol, K. Tantiwanichapan, A. Sathukarn, M. Horprathum. Optical Mater. (Amst.), 129, 112439 (2022). https://doi.org/10.1016/J.OPTMAT.2022.112439
  2. N. Cherupurakal, M.S. Mozumder, A.H.I. Mourad, S. Lalwani. Renew. Sustain. Energy Rev., 151, 111538 (2021). https://doi.org/10.1016/j.rser.2021.111538
  3. J. Zhang, X. Li, M. Zhong, Z. Zhang, M. Jia, J. Li, X. Gao, L. Chen, Q. Li, W. Zhang, D. Xu. Small, 18, 2201716 (2022). https://doi.org/10.1002/SMLL.202201716
  4. Z. Gong, Q. Li, Y. Li, H. Xiong, H. Liu, S. Wang, Y. Zhang, M. Guo, F. Yun. Appl. Phys. Express, 9, 082102 (2016). https://doi.org/10.7567/APEX.9.082102
  5. M.J. Park, C.U. Kim, S.B. Kang, S.H. Won, K.J. Choi. Adv. Opt. Mater., 5, 1600684 (2017). DOI: 10.1002/adom.201600684
  6. A.S. Pavluchenko, L.K. Markov, I.P. Smirnova, V.V. Aksenova, M.V. Mesh, D.S. Kolokolov. Mater. Lett., 372, 137040 (2024). https://doi.org/10.1016/J.MATLET.2024.137040
  7. Y. Shen, Y. Zhao, J. Shen, X. Xu. JOM, 69, 1155 (2017). https://doi.org/10.1007/S11837-017-2353-3
  8. G.O. Setti, D.P. De Jesus, E. Joanni. Mater. Res. Express, 3, 105021 (2016). https://doi.org/10.1088/2053-1591/3/10/105021
  9. L.K. Markov, A.S. Pavluchenko, I.P. Smirnova, V.V. Aksenova, M.A. Yagovkina, V.A. Klinkov. Thin Sol. Films, 774, 139848 (2023). https://doi.org/https://doi.org/10.1016/j.tsf.2023.139848
  10. H.K. Yu, J.L. Lee. Sci. Rep., 4, 1 (2014). https://doi.org/10.1038/srep06589
  11. Л.К. Марков, А.С. Павлюченко, И.П. Смирнова, М.В. Меш, Д.С. Колоколов, А.П. Пушкарев. ФТП, 56, 825 (2022). https://doi.org/10.21883/FTP.2022.08.53153.9856
  12. A. Mirzaei, M.H. Lee, K.K. Pawar, S.P. Bharath, T.U. Kim, J.Y. Kim, S.S. Kim, H.W. Kim. Materials, 16, 6233 (2023). https://doi.org/10.3390/MA16186233
  13. Y. Zhang, Q. Li, Z. Tian, P. Hu, X. Qin, F. Yun. SN Appl. Sci., 2, 1 (2020). https://doi.org/10.1007/S42452-020-2050-7
  14. Л.К. Марков, А.С. Павлюченко, И.П. Смирнова, М.В. Меш, Д.С. Колоколов. ФТП, 55, 365 (2021). https://doi.org/10.21883/ftp.2021.04.50742.9574
  15. S.H. Ibrahim, T. Wejrzanowski, B. Przybyszewski, R. Kozera, X. Garci a-Casas, A. Barranco. Materials, 15, 3112 (2022). https://doi.org/10.3390/MA15093112
  16. Y. Wu, J. Du, G. Liu, D. Ma, F. Jia, J.J. Klemevs, J. Wang. Renew. Energy, 185, 1034 (2022). https://doi.org/10.1016/J.RENENE.2021.12.123
  17. V.V. Aksenova, I.P. Smirnova, L.K. Markov, A.S. Pavlyuchenko, D.S. Kolokolov, D.Yu. Volkov. St. Petersburg Polytech. Univ. J. Phys. and Math., 16 (1.1), 404 (2023). https://doi.org/10.18721/JPM.161.169
  18. S. Liu, C.Y. Tso, H.H. Lee, Y. Zhang, K.M. Yu, C.Y.H. Chao. Sci. Rep., 10, 1 (2020). https://doi.org/10.1038/s41598-020-68411-6
  19. K.H. Tsui, Q. Lin, H. Chou, Q. Zhang, H. Fu, P. Qi, Z. Fan. Adv. Mater., 26, 2805 (2014). https://doi.org/10.1002/ADMA.201304938
  20. R.J. Moerland, J.P. Hoogenboom. Optica, 3 (2), 112 (2016). https://doi.org/10.1364/OPTICA.3.000112
  21. M. Wang, Y. Xu, D. Zheng. Measurement, 235, 115031 (2024). https://doi.org/10.1016/J.MEASUREMENT.2024.115031

Учредители

Издатель

© 2026 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme