"Физика и техника полупроводников"
Вышедшие номера
Влияние условий пиролиза аэрозоля водных растворов тиомочевинных комплексов на СВЧ фотопроводимость пленок сульфида кадмия
Сермакашева Н.Л.1, Шульга Ю.М.1, Метелева Ю.В.1, Новиков Г.Ф.1
1Институт проблем химической физики Российской академии наук, Черноголовка, Россия
Поступила в редакцию: 21 июля 2005 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2006 г.

Микрометровые пленки CdS исследованы методами СВЧ фотопроводимости (резонаторный метод в 3 см диапазоне), рентгенофазового анализа и диффузного отражения. Пленки были получены методом пиролиза аэрозоля из тиомочевинных координационных соединений при температуре подложки 250-550oC и содержали примесь хлора. Для освещения использовали импульсный азотный лазер (337 нм) длительностью импульса 10 нс. Обнаружена зависимость параметров отклика СВЧ фотопроводимости, энергии запрещенной зоны и микродеформации кристаллической решетки от температуры синтеза пленок. PACS: 73.61.Ga, 73.50.Pz, 73.50.Gr, 78.70.Gq
  1. J. Lee, T. Tsakalakos. Nanostruct. Mater., 8 (4), 381 (1997)
  2. Ю.В. Метелева, А.В. Наумов, Н.Л. Сермакашева, В.Н. Семенов, Г.Ф. Новиков. Хим. физика, 20 (9), 39 (2001)
  3. В.Н. Семенов, А.В. Наумов. Вестн. ВГУ. Сер. химия, биология, 2, 50 (2000)
  4. Ю.В. Метелева, Н.Л. Сермакашева, В.Н. Семенов, Г.Ф. Новиков. Хим. физика, 20 (7), 30 (2001)
  5. А.В. Наумов, Ю.В. Метелева, Н.Л. Сермакашева, В.Н. Семенов, Г.Ф. Новиков. ЖПС, 69 (1), 104 (2002)
  6. Я.С. Уманский, Ю.А. Скаков, А.Н. Иванов, Л.Н. Расторгуев. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия (М., Металлургия, 1982)
  7. Н.Л. Сермакашева, Г.Ф. Новиков, Ю.М. Шульга, В.Н. Семенов. ФТП, 38 (4), 395 (2004). [N.L. Sermakasheva, G.F. Novikov, Yu.M. Shul'ga, V.N. Semenov. Semiconductors, 38 (4), 380 (2004).]
  8. Г.Ф. Новиков, С.Г. Неманов, М.В. Алфимов. Опт. и спектр., 75 (6), 1244 (1993)
  9. R.J. Deri, J.P. Spoonhower. Photogr. Sci. Eng., 28 (3), 92 (1984)
  10. R.J. Deri, J.P. Spoonhower. Phys. Rev. B, 25 (4), 2821 (1982)
  11. N. Razik. J. Mater. Sci. Lett., 6, 1443 (1987)
  12. Физические величины. Справочник, под ред. И.С. Григорьева, Е.С. Мейлихова (М., Энергоатомиздат, 1991)
  13. V. Kumar, T.P. Sharma. J. Phys. Chem. Sol., 59 (8), 1321 (1998)
  14. Ю.И. Уханов. Оптические свойства полупроводников (М., Наука, 1977)
  15. J.P. Enriquez, X. Mathew. Sol. Energy Mater. \& Solar Cells, 76, 313 (2003)
  16. R. Reisfeld. J. Alloys Comp., 341, 56 (2002)
  17. В.Б. Зайцев, А.В. Зотеев, В.В. Клечковская, Т.В. Панова, Г.С. Плотников, Е.В. Ракова, Н.Д. Стёпина. Химия и компьютерное моделирование. Бутлеровские сообщения. Матер. докл. VII Всеросс. конф. " Структура и динамика молекулярных систем" (2001)
  18. Jin Z. Zhang. Acc. Chem. Res., 30 (16), 423 (1997)
  19. A.E. Rakhshani, A.S. Al-Azab. J. Phys.: Condens. Matter, 12, 8745 (2000)
  20. E. Lifshin. X-ray Characterization of Materials (Wiley-VCH, N. Y., 1999) p. 37
  21. I.Y.W. Seto. J. Electrochem. Soc., 122, 701 (1975)
  22. G. Bassarani, B. Ricco. J. Appl. Phys., 49, 11 (1978)
  23. I.Y.W. Seto. J. Appl. Phys., 46, 5247 (1975)
  24. С.А. Колосов, Ю.В. Клевков, А.Ф. Плотников. ФТП, 38 (4), 473 (2004)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.