Физика и техника полупроводников
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Структурные и фотоэлектрические свойства тонких пленок оксида цинка на подложке танталата лития
Переводная версия: 10.21883/SC.2022.14.53860.9724 
1Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия 
2Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
3Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
3Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова, Санкт-Петербург, Россия
Email: lvgrigoryev@mail.ru
Поступила в редакцию: 27 июля 2021 г.
В окончательной редакции: 2 августа 2021 г.
Принята к печати: 2 августа 2021 г.
Выставление онлайн: 14 сентября 2021 г.
Представлены результаты исследования структурных и фотоэлектрических свойств тонкопленочной структуры ZnО-LiTaO3. Приведены результаты рентгеноструктурного анализа и данных атомно-силовой микроскопии для пленок оксида цинка, синтезированных на подложке из монокристаллического танталата лития и на подложке из полированного кварца КУ-1. Приведена спектральная зависимость фотоэлектрического тока тонкопленочной структуры ZnО-LiTaO3 и структуры ZnO-кварц в ультрафиолетовом и видимом диапазонах спектра. Представлены результаты восстановления методом регуляризации Тихонова-Лаврентьева энергетического спектра оптически активных дефектов, присутствующих в структуре ZnО-LiTaO3. Ключевые слова: тонкие пленки, оксид цинка, лазерная абляция, сегнетоэлектрические материалы, фотопроводимость, рентгеноструктурный анализ, атомно-силовая микроскопия, регуляризация Тихонова-Лаврентьева.
- W.Z. Xu, Z.Z. Ye, Y.J. Zeng, L.P. Zhu, B.H. Zhao, L. Jiang, J.G. Lu, H.P. He, S.B. Zhang. Appl. Phys. Lett., 88, 173506 (2006)
- C.L. Wei, Y.E. Chen, C.C. Cheng. Thin Sol. Films, 518, 3059 (2010)
- Y.K. Chembo, D. Brunner, M. Jacquot, L. Largerl. Rev. Mod. Phys., 91 (3), 035006 (2019)
- В.А. ривченко, Д.В. Лопаев, В.В. Пащенко, В.Г. Пирогов, А.Т. Рахимов, Н.В. Суетин, А.С. Трифонов. ЖТФ, 78 (8), 107 (2008)
- Т.В. Бланк, Ю.А. Гольденберг. ФТП, 37 (9), 1035 (2003)
- Zh. Wen, Ch. Li, D. Wu, A. Li, N. Ming. Nature Materials, 12, 617 (2013)
- Л.В. Григорьев, А.А. Семенов, Я.Б. Егорова, Н.А. Быков. Опт. и cпектр., 127 (12), 986 (2019)
- Л.В. Григорьев, А.А. Семенов, И.А. Морозов, Н.С. Журавлев ФТП, 54 (3), 232 (2020)
- L.V. Grigoryev, A.F. Kraycko, A.V. Mikhailov, V.G. Nefedov, O.V. Shakin. Adv. Mater., Proc. Int. Conf. on "Physics and Mechanics of New Materials and their Applications", PHENMA-17, v. 207, chap. 19, p. 239 (2017)
- О.Г. Вендик, В.Ф. Горин. Корпускулярно-фотонная технология (М., Высш. шк., 1984) с. 239
- W. Prellier, A. Fouchet, B. Mercey, Ch. Simon, B. Raveau. Appl. Phys. Lett., 82, 3490 (2003)
- S. Hermann, T. Dezhindar, H. Harder, R. Brendel. J. Appl. Phys., 108, 114514 (2010)
- А.А. Русаков. Рентгенография металлов (М., Атомиздат, 1977) с. 480
- P. Narin, E. Kutlu, G. Atmaca, A. Atilgan, A. Yildiz, S. Lisesivdin. Optik, 168, 86 (2018)
- U. Helmensonn, M. Latemann, J. Bohlmark, A.P. Ehiasarian, J.T. Gudmudsson. Thin Sol. Films, 513 (1-2), 1 (2006)
- B.D. Yao, V.F. Chang, F. Wang. Appl. Phys. Lett., 81, 757 (2002)
- D.M. Bagnal, Z. Chen, T. Yao. Appl. Phys. Lett., 73, 1038 (1998)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
